[发明专利]纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子的计算方法、实验方法及实验装置在审
申请号: | 201911326047.6 | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN111024520A | 公开(公告)日: | 2020-04-17 |
发明(设计)人: | 杨立云;胡桓宁;宋烨 | 申请(专利权)人: | 中国矿业大学(北京) |
主分类号: | G01N3/24 | 分类号: | G01N3/24;G01N3/06 |
代理公司: | 北京领科知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 11690 | 代理人: | 艾变开 |
地址: | 100083 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 剪切 加载 型切槽 尖端 应力 强度 因子 计算方法 实验 方法 装置 | ||
本发明提供一种纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子的计算方法、实验方法及实验装置,该计算方法基于焦散线法,包括:步骤一:选取具有V型切槽的平面待测物,建立待测物平面与参考平面之间的光学映射关系;步骤二:建立V型切槽尖端应力场表达式;步骤三:建立焦散线的初始曲线半径r0与应力强度因子KII的关系式;步骤四:确定纯剪切加载下V型切槽的焦散线映射方程;步骤五:建立特征长度Dmax与焦散线的初始曲线半径r0的关系式;步骤六:确定纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子KII。本发明研究得出纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子KII的计算方法,为获取V型切槽尖端应力强度因子提供了新的途径。本方法具有良好的精度和数值稳定性。
技术领域
本发明属于断裂力学领域,特别是对含V型切槽构件的应力强度因子计算,涉及一种纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子的计算方法、实验方法及实验装置。
背景技术
在各种工程结构中,无论是大型民用建筑,还是微电子结构,V型切槽都广泛存在。V型切槽的存在会导致应力集中甚至应力奇异性的问题,从而降低结构构件的承载能力。因此,研究V形切槽尖端周围的应力分布至关重要。V型切槽属于断裂力学中的一类问题,研究V型切槽尖端应力分布的关键是确定相应的切槽尖端应力强度因子。
目前存在很多计算V型切槽尖端应力强度因子的方法,例如理论计算法,数值计算法以及实验法。在理论与数值计算法方面,有边界配置法,有限元法,扩展有限元等方法。但利用理论或数值计算,往往会存在理论复杂,建模过程繁重,且计算效率低的问题。
在实验法方面,焦散线法是一种特别适合于解决奇异性问题的光测力学实验方法,其具有测定数据少、精度高等优点,被广泛用于测定V型切槽尖端应力强度因子。相关学者研究了V型切槽板在I型加载和对称加载下的切槽尖端的断裂特征。
在上述的背景现状中,已有相关学者使用焦散线法计算拉伸荷载下的V型切槽尖端应力强度因子。但对于纯剪切加载下的V型切槽,运用焦散线法求解其尖端应力强度因子的理论和应用尚缺乏研究。
发明内容
本发明针对现有技术的不足,进行了相关研究,提出了一种纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子的计算方法、实验方法及实验装置。
本发明提供一种纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子的计算方法,该计算方法基于焦散线法,包括如下步骤:
步骤一:选取具有V型切槽的平面待测物,建立待测物平面与参考平面之间的光学映射关系;
步骤二:建立V型切槽尖端应力场表达式;
步骤三:建立焦散线的初始曲线半径r0与应力强度因子KII的关系式;
步骤四:确定纯剪切加载下V型切槽的焦散线映射方程;
步骤五:建立特征长度Dmax与焦散线的初始曲线半径r0的关系式;
步骤六:确定纯剪切加载下V型切槽尖端应力强度因子KII。
作为一种改进,步骤二建立V型切槽尖端应力场表达式包括:
以待测物的切槽尖端为坐标原点建立极坐标系,在纯剪切加载下的V型切槽的广义应力强度因子KII定义为:
式中r和θ为极坐标,τrθ为切槽尖端的剪切应力,λ为切槽尖端的应力奇异性指数;
对于线弹性、各向同性、均质的薄板,在受到纯剪切荷载作用时,切槽尖端附近的应力场表达式为:
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