[发明专利]一种光电检测用辅助校准装置在审
申请号: | 201911322132.5 | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN113008523A | 公开(公告)日: | 2021-06-22 |
发明(设计)人: | 张向阳;李晓博;王军科 | 申请(专利权)人: | 西安谷德电子科技有限公司 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人: | 赵娇 |
地址: | 710077 陕西省西安市雁塔区高*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光电 检测 辅助 校准 装置 | ||
1.一种光电检测用辅助校准装置,包括底座(1),其特征在于:所述底座(1)顶部设有校准座(2),所述校准座(2)顶部设有支撑杆(3),所述支撑杆(3)与校准座(2)固定连接,所述支撑杆(3)顶部设有第一积分球体(4),所述第一积分球体(4)一侧设有第二积分球体(5),所述第二积分球体(5)一侧开设有检测窗(6),所述底座(1)与校准座(2)之间设有调节组件,所述第一积分球体(4)外部设有卡接机构;
所述调节组件包括调节螺栓(7)和回位弹簧(8),所述调节螺栓(7)设在校准座(2)顶部,所述调节螺栓(7)底端贯穿校准座(2),所述调节螺栓(7)底端与底座(1)设置为螺纹连接,所述回位弹簧(8)套设在调节螺栓(7)外部,所述回位弹簧(8)顶部与校准座(2)底部相接触,所述回位弹簧(8)底部与底座(1)顶部接触;
所述卡接机构包括卡环(9),所述卡环(9)一侧设有拉头(10),所述卡环(9)上嵌设有圆筒(11),所述圆筒(11)内部设有拉杆(12),所述圆筒(11)内部设有挡板(13),所述 挡板(13)与拉杆(12)固定套接,所述挡板(13)一侧设有复位弹簧(14),所述复位弹簧(14)与拉杆(12)活动套接,所述复位弹簧(14)一端与挡板(13)相接触,所述复位弹簧(14)另一端与圆筒(11)一侧壁相接触,所述拉杆(12)另一端开设有挡板(13),所述挡板(13)为长方形。
2.根据权利要求1所述的一种光电检测用辅助校准装置,其特征在于:所述支撑杆(3)设置为三个,三个所述支撑杆(3)顶部形成支撑结构。
3.根据权利要求1所述的一种光电检测用辅助校准装置,其特征在于:所述第一积分球体(4)与第二积分球体(5)形成球形,所述支撑杆(3)顶部与第一积分球体(4)和第二积分球体(5)相接触。
4.根据权利要求1所述的一种光电检测用辅助校准装置,其特征在于:所述调节组件的数量设置为不少于三组,多组所述调节机构相对于校准座(2)呈环形阵列分布。
5.根据权利要求1所述的一种光电检测用辅助校准装置,其特征在于:所述拉杆(12)一端穿过圆筒(11)延伸至卡环(9)一侧,所述拉杆(12)另一端穿过圆筒(11)延伸至卡环(9)另一侧,所述拉杆(12)与拉头(10)固定连接。
6.根据权利要求1所述的一种光电检测用辅助校准装置,其特征在于:所述卡槽(15)内部设有垫块,所述垫块与拉杆(12)固定连接,所述垫块的数量设置为多个,多个所述垫块相对于拉杆(12)的水平中心线对称分布,所述垫块与第一积分球体(4)和第二积分球体(5)相接触。
7.根据权利要求1所述的一种光电检测用辅助校准装置,其特征在于:所述卡接机构的数量设置为不少于两组,多组所述卡接机构相对于卡环(9)呈环形阵列分布。
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