[发明专利]一种光学器件、耦合机及光模块测试系统

说明书

本申请提供了一种光学器件、耦合机及光模块测试系统，用于光模块生产加工的相关设备中，包括：壳体和设置在所述壳体上的盖板，所述壳体与所述盖板之间形成空腔；所述空腔内设置有绕模器组件和绕模光纤，所述绕模光纤缠绕在所述绕模器组件上，所述绕模器组件固定连接所述壳体；所述绕模光纤上还连接设置有多模衰减器，所述多模衰减器用于衰减通过所述绕模光纤传输的光信号。当将本申请提供的光学器件应用在与光模块加工相关的设备中时，若也能使光模块满足相关的设备中的标准，即光模块产生的光信号经过一定衰减后还能够满足相关设备中要求，那么在光模块的加工生产中使环形通量指标将得到提升，进而在光模块生产中实现对其环形通量指标的提升。

技术领域

本申请涉及光通信技术领域，尤其涉及一种光学器件、耦合机及光模块测试系统。

背景技术

在多模光通信系统中，环形通量是个新标准。当多模光模块产品的环形通量指标不良时可能会造成光功率、TDECQ(Transmitter Dispersion Eye Closure quaternary，发射色散眼图闭合四相)、光眼图相关参数、误码等光模块指标不良。

目前，由于常规的耦合机不具备环形通量测试能力，对于多模光模块产品的环形通量指标的检测，通常是在完成光模块组装后使用昂贵的专用测试仪器——环通量测试仪进行测试，而且环通量测试仪不宜在光模块组装量产中实现自动化测试。然而在光模块组装量产中，若其环形通量指标出现不良而未被发现，需要将光模块重新返工，造成巨大耗费。

发明内容

本申请提供了一种光学器件、耦合机及光模块测试系统，便于在光模块生产中实现对其环形通量指标的提升。

第一方面，本申请提供了一种光学器件，用于光模块生产加工相关设备中，包括：壳体和设置在所述壳体上的盖板，所述壳体与所述盖板之间形成空腔；

所述空腔内设置有绕模器组件和绕模光纤，所述绕模光纤缠绕在所述绕模器组件上，所述绕模器组件固定连接所述壳体；

所述绕模光纤上还连接设置有多模衰减器，所述多模衰减器用于衰减通过所述绕模光纤传输的光信号。

第二方面，本申请提供了一种耦合机，所述耦合机包括上述第一方面所述的光学器件，所述光学器件接入所述耦合机的光学链路上。

第三方面，本申请提供了一种光模块检测系统，所述模块检测系统包括上述第一方面所述的光学器件，所述的光学器件接入所述光模块检测系统的光学链路上。

本申请提供的光学器件、耦合机及光模块测试系统，在使用时，将光学器件设置在耦合机或光模块测试系统等与光模块加工相关的设备中，具体为光模块传输光束的光路中，光模块发出的光信号进入光学器件，经光学器件中的绕模光纤和多模衰减器作用，有效将光模块发出光信号中的高阶模信号进行滤除，同时又能保证低阶模损耗在要求范围内。因为环形通量在一定程度上反应的是高阶模和低阶模之间的占有比例，因此当将本申请提供的光学器件应用在与光模块加工相关的设备中时，若也能使光模块满足相关的设备中的标准，即光模块产生的光信号经过一定衰减后还能够满足相关设备中要求，那么在光模块的加工生产中使环形通量指标将得到提升,从而保证光链路代价的一致性。

附图说明

为了更清楚地说明本申请的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，对于本领域普通技术人员而言，在不付出创造性劳动性的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本申请实施例中提供的一种光学器件的立体结构示意图；

图2为本申请实施例中提供的一种光学器件的盖板打开就结构示意图；

图3为本申请实施例中提供的一种光学器件的爆炸图；

图4为本申请实施例中提供的光学器件在第一法兰盘处的剖视图；