[发明专利]一种批量精确诊断cBit阵列故障的装置和方法

说明书

一种批量精确诊断cBit阵列故障的装置和方法，该装置包括cBit资源板、诊断PB板和CPU处理单元；cBit资源板包括位于cBit资源板上的第一cBit阵列、M*N写寄存器和输出控制CPLD；诊断PB板包括第二cBit阵列、M*N读寄存器和数据读取控制CPLD；CPU处理单元分别与cBit资源板和诊断PB板相连；本发明通过构造cBit资源连接器的输出引脚(Pin脚)上的电势孤岛来诊断该引脚是否存在连接故障，不仅可以有效的针对大批量cBit资源连接器的连通性进行精确有效的故障诊断，还可以精确的诊断明确cBit资源连接器所在Pin脚的故障点和故障类型。

技术领域

本发明涉及半导体自动测试设备(Automatic Test Equipment，简称ATE)领域，尤其涉及一种批量精确诊断cBit阵列故障的装置和方法。

背景技术

cBit可以理解为Control Bit，在测试芯片的过程中，自动测试设备(ATE)通过输出高低电平来为客户提供延迟(Relay)开关功能，和多路(Mux)选路的功能。

在高端ATE设备中，由于需要并行测试的待测器件(Device under test简称DUT)数量多，所需的各类资源数量非常庞大，以cBit的资源来看，完全可能有上千个引脚。

请参阅图1，图1所示为现有技术中单个cBit简易电路示意图。请参阅图2，图2所示为现有技术中单个cBit通道功能示意图。

本领域技术人员清楚，ATE设备的资源通道数量较多，单块cBit资源板上的通道数量往往可以达到1000多个。为了确保客户拿到的cBit单板每一个通道都是功能正常的，因此，在生产环境和客户诊断环境下均需要具有支持快速有效的诊断能力。

并且，单个连接器对外的引脚除核心的cBit引脚外，一般部分引脚需要提供电源引脚VCC、接地引脚GND和悬空NC的功能定义，并且，这部分引脚所在具体位置也会有一定的随机性。为方便理解，以下列举两个示例，当然，在实际应用过程中，也并不需要一定按照这两种连接方式。

请参阅图3和图4，图3所示为现有技术中第一种单个连接器各单元显示值的示意图；图4所示为现有技术中第二种单个连接器各单元显示值的示意图。

其中，VCC：表示该Pin输出为电源，即高电平，软件层面可以理解为逻辑1；GND：表示该Pin输出为电源，即低电平，软件层面可以理解为逻辑0；NC：表示该Pin为Not Connect，即表示为悬空。

此外，在硬件走线时，需要避免电源引脚VCC与接地引脚GND设计在相连通道上，以防止电源引脚VCC与接地引脚GND短路的发生。

也就是说，整个cBit资源板有可能涉及到的1000多个引脚(Pin)资源，即会有若干个连接器放置在同一个cBit资源板上。

对于cBit资源板上各连接器之间的连通性故障，常见的有短路、断路、常高和常低等几种情况。上述这连通性故障常见情况的解释如下：

①、短路是指板内资源通道间形成了短接；

②、断路是指板内资源通道通过连接器不能与外部器件形成电路连接；

③、常高是指板内资源通道一直输出高电平；

④、常低是指板内资源通道一直输出低电平。

常规的cBit诊断，通常可以通过驱动高低电平来逐个判断通道的连通性。也就是说，可以首先将通道1设置为高读取结果值为1，通道2设置为高读取结果值1，依次遍历所有的通道；之后，将通道1设置为低读取结果值为0，通道2设置为低读取结果值为0，依次遍历和判断所有通道。

然而，上述的cBit诊断方案对于通道间短路的情况无法有效发现。

发明内容