[发明专利]一种手持极性测试装置自适应超长工作时间方法有效

专利信息
申请号: 201911314500.1 申请日: 2019-12-19
公开(公告)号: CN110940947B 公开(公告)日: 2022-04-22
发明(设计)人: 尹相国;何楷;蒋超伟;吴占贵;郭鹏;张瑞;马小芸;张文;胡柏华;马磊;李德;罗建平;孙祥波 申请(专利权)人: 国网宁夏电力有限公司检修公司;武汉凯默电气有限公司
主分类号: G01R35/02 分类号: G01R35/02
代理公司: 武汉宇晨专利事务所(普通合伙) 42001 代理人: 李鹏;王敏锋
地址: 750011 宁夏回族自治区*** 国省代码: 宁夏;64
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摘要:
搜索关键词: 一种 手持 极性 测试 装置 自适应 超长 工作时间 方法
【权利要求书】:

1.一种手持极性测试装置自适应超长工作时间方法,其特征在于:包括以下步骤:

步骤1、电源单元给测量实现单元和人机交互单元供电,测量实现单元中的DSP处理器和FPGA处理器开始运行,FPGA处理器控制模拟信号转换模块、光串口和光网口关闭;

步骤2、人机交互单元的ARM处理器进入S1状态模式,ARM处理器在S1状态模式中,ARM处理器控制人机交互单元的显示屏被点亮,动态调节ARM处理器核心电压和运行频率;

如果ARM处理器自进入S1状态模式的时刻点起的第一超时阀值内,人机交互单元的电容触摸屏或按键没有输入,则ARM处理器进入S2状态模式,如果ARM处理器监测到电容触摸屏或按键在第一超时阈值内有输入,则ARM处理器根据电容触摸屏或按键的输入判断是否进入极性测试步骤;

步骤3、ARM处理器在S2状态模式中,ARM处理器关闭显示屏和ARM处理器的内部图像显示单元,降低ARM处理器运行频率和核心电压;如果在ARM处理器自进入S2状态模式的时刻点起第二超时阀值内有电容触摸屏或按键输入,则ARM处理器根据电容触摸屏或按键的输入判断是否进入极性测试步骤并返回S1状态模式,否则ARM处理器进入S3状态模式;

步骤4、ARM处理器在S3状态模式中,ARM处理器关闭显示屏和ARM处理器的内部锁相环PLL,ARM处理器仅依靠内部RC振荡器提供的时钟运行,ARM处理器如果检测到电容触摸屏或按键输入则ARM处理器根据电容触摸屏或按键的输入判断是否进入极性测试步骤并返回S1状态模式,否则ARM处理器持续运行于S3状态模式,

动态调节ARM处理器核心电压和运行频率包括以下步骤:

根据ARM处理器的运行负载,调整ARM处理器的运行频率和核心电压:ARM处理器的运行负载越大,ARM处理器的运行频率和核心电压越高;ARM处理器的运行负载越小,ARM处理器的运行频率和核心电压越低。

2.根据权利要求1所述的一种手持极性测试装置自适应超长工作时间方法,其特征在于,ARM处理器根据电容触摸屏或按键的输入判断是否进入极性测试步骤包括以下步骤:

若ARM处理器判断电容触摸屏或按键的输入为测试模式和相应的测试参数,则进行极性测试步骤;否则不进行极性测试步骤。

3.根据权利要求2所述的一种手持极性测试装置自适应超长工作时间方法,其特征在于,所述的极性测试步骤包括以下步骤:

ARM处理器将测试模式和相应的测试参数通过网口发送到测量实现单元的DSP处理器,DSP处理器将测试模式和相应的测试参数通过外部内存接口写入FPGA内部存储寄存器;

若测试模式为电磁式互感器测试,则FPGA处理器开启模拟信号转换模块接收数字测量信号;

若测试模式为电子式互感器测试,则FPGA处理器开启光串口接收FT3报文;

若测试模式为电磁式互感器+合并单元测试,则FPGA处理器开启光网口接收SV报文;

若测试模式为电子式互感器+合并单元测试,则FPGA处理器开启光网口接收SV报文;

FPGA处理器将接收到的数字测量信号或FT3报文或SV报文写入FPGA内部存储寄存器,并发送中断到DSP处理器;

DSP处理器收到FPGA处理发送的中断,从FPGA处理器的FPGA内部存储寄存器中读取数字测量信号或FT3报文或SV报文,通过数字测量信号或FT3报文或SV报文获得互感器一次绕组和互感器二次绕组的模拟量采样值,进行半周积分计算互感器一次绕组和互感器二次绕组的模拟量平均值,若互感器一次绕组和互感器二次绕组的模拟量平均值同时为正或者同时为负,则互感器一次绕组和互感器二次绕组为同极性,否则互感器一次绕组和互感器二次绕组为反极性;

在互感器极性被确定后,DSP处理器向人机交互单元的ARM处理器发送互感器极性测试结果,ARM处理器收到互感器极性测试结果后,在显示屏上进行显示,发送停止测试命令到DSP处理器,并返回S1状态模式,DSP处理器将停止测试命令发送到FPGA处理器,FPGA处理器关闭模拟信号转换模块、光串口和光网口。

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