[发明专利]一种K镜光学系统装调方法有效

专利信息
申请号: 201911313724.0 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN110989188B 公开(公告)日: 2021-03-26
发明(设计)人: 闫力松;莫言;晁联盈;陈晓晨;马冬林 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G02B27/62 分类号: G02B27/62
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 光学系统 方法
【权利要求书】:

1.一种K镜光学系统装调方法,其特征在于,包括以下步骤:

S1、利用光学平行平板和干涉仪建立K镜光学系统光学基准;

S2、借助五棱镜调节K2反射镜的位置,使K2反射镜镜面与K镜光学系统机械转轴平行;

S3、按照机械平面位置放置K3反射镜,然后放入K1反射镜并调整K1反射镜位置,使干涉仪出射光经K1反射镜、K2反射镜、K3反射镜和光学平行平板反射后在干涉仪内形成零条纹;

所述步骤S1包括:

S11、利用干涉仪对光学平行平板表面进行零位测量;

S12、调节平行平板,使其平面垂轴方向与K镜机械转轴平行;

所述步骤S2包括:

S21、将干涉仪置于K镜光学系统左侧,并调节干涉仪位置,使干涉仪检测光学平行平板得到零条纹;

S22、在干涉光路中放置五棱镜及K2反射镜,使干涉仪出射光经过五棱镜、K2反射镜反射后在干涉仪内形成零条纹。

2.如权利要求1所述的K镜光学系统装调方法,其特征在于,所述步骤S11具体包括:

将光学平行平板置于K镜光学系统右侧,利用光学平行平板右侧的干涉仪对光学平行平板进行干涉测量,调节干涉仪的位置,使干涉条纹变为零条纹。

3.如权利要求1所述的K镜光学系统装调方法,其特征在于,所述步骤S12具体包括:

旋转K镜光学系统机械转轴,根据转动过程中干涉条纹的变化来调整光学平行平板位置,直至在转动过程中干涉仪始终测量得到零条纹。

4.如权利要求3所述的K镜光学系统装调方法,其特征在于,所述五棱镜的入射光与出射光之间形成的角度为90°。

5.如权利要求1所述的K镜光学系统装调方法,其特征在于,在装调完成的K镜光学系统中保留光学基准,作为K镜光学系统与后续光学系统对接的光学接口。

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