[发明专利]全自动牛角电容老化数据监控测试方法

说明书

本发明属于电解电容生产技术领域，尤其涉及一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法，包括以下步骤：S100：提供待检测的电容，上料装置和电容夹具，通过上料装置给电容打码，然后使用电容夹具夹紧打码后的电容；S200：提供开路短路检测部件，开路短路检测部件用于对电容进行检测；S300：提供老化烤箱和监测装置，将监测装置安装于老化烤箱内，将电容夹具置入老化烤箱对内，老化烤箱对电容进行老化，监测装置同时对电容进行数据监控；S400：提供下料筛选装置，经过老化烤箱后的电容夹具输送至下料筛选装置上，然后通过下料筛选装置对电容进行检测筛选，电脑对大量的实时检测数据分析判断出电容老化过程的细微的异常变化。

技术领域

本发明属于电解电容生产技术领域，尤其涉及一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法。

背景技术

铝电解电容器的老化也叫老练，老化的目的是充电修复氧化膜，使电容的电性能得以稳定。因为电容器的正极箔片在分切、铆接、卷绕等工艺制作过程中，箔片上的氧化膜受到损伤，所以要进行充电老化修补被损坏的氧化膜

目前国内外电容老化设备只是在烤箱内对电容进行充电老化，没有对老化过程中的电容上的电压电流的数值变化进行监测，老化完成后，移出烤箱外部才进行一次老化后数据检测，以此检测数据来判断电容是否合格。电容在烤箱长时间充电老化过程没有数据检测，只是在充电老化完成后才进行一次数据检测，这样无法完全判断老化过程中电容内部瑕疵的闪火击穿、过充内爆、老化不充分等不良，无老化的过程监测也就无产品老化过程数据的追溯。这样对电容老化过程的研究改善就缺乏数据可查，也就无法完全保证电容的品质。

发明内容

本发明的目的在于提供一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法，旨在解决现有技术中没有检测电容老化过程数据的变化技术问题。

为实现上述目的，本发明实施例提供的一种全自动牛角电容老化数据监控测试方法，其特征在于，包括以下步骤：

S100：提供待检测的电容，上料装置和电容夹具，通过所述上料装置给电容打码，然后使用所述电容夹具夹紧打码后的所述电容；

S200：提供开路短路检测部件，所述开路短路检测部件用于对位于所述电容夹具上的所述电容进行开路、短路检测；

S300：提供老化烤箱、监测装置和电脑，将所述电容夹具放置到所述老化烤箱内，老化烤箱对电容夹具上的电容进行老化，同时所述监测装置对所述电容进行数据监控，并将监控数据传输至电脑上；

S400：提供下料筛选装置，将经过所述老化烤箱后的所述电容夹具输送至所述下料筛选装置上，然后通过所述下料筛选装置对老化后的所述电容进行数据检测并进行筛选。

可选地，所述步骤S100中，所述上料装置包括正负极识别机构和上料识别打码剔除机构，所述正负极识别机构用于对电容进行正负极、套管位置检测，所述上料识别打码剔除机构用于对电容进行打码并检测所述电容打码的清晰度。

可选地，所述上料识别打码剔除机构包括激光打码组件、打码位置旋转台、检测喷码中转台、二维码检测视觉组件、打码/剔除中转台和正负极还原中转台；所述激光打码组件用于对电容进行打码；所述打码位置旋转台用于旋转电容，使电容的打码位置面向后方；所述检测喷码中转台用于夹紧电容；所述二维码检测视觉组件用于对所述电容打码位置进行视觉检测；所述打码/剔除中转台用于对未打码的电容进行打码，对已经打码的且清晰的电容省略打码，对打码不清晰的电容进行剔除；所述正负极还原中转台用于将所述电容旋转回正负极规定的角度位置。

可选地，所述步骤S200中，所述开路短路检测部件包括开路短路测量仪表、开路短路测试电刷、开路短路打料组件、开路短路不良品盒；所述开路短路测量仪表和所述开路短路测试电刷电连接，所述开路短路测试电刷与电容夹具接触，所述开路短路测量仪表检测检测所述电容开路和/或短路的状态，开路短路打料组件用于将检测出短路和/或短路的所述电容从所述电容夹具中打下至所述开路短路不良品盒中。