[发明专利]Flash数据校验方法及Flash控制器、存储介质、设备有效
申请号: | 201911309883.3 | 申请日: | 2019-12-18 |
公开(公告)号: | CN111124742B | 公开(公告)日: | 2023-07-18 |
发明(设计)人: | 陈诚;陈光胜 | 申请(专利权)人: | 上海东软载波微电子有限公司 |
主分类号: | G06F11/10 | 分类号: | G06F11/10 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李笑笑 |
地址: | 200235 上海市徐汇区*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | flash 数据 校验 方法 控制器 存储 介质 设备 | ||
1.一种Flash数据校验方法,其特征在于,包括:
在Flash上电或Flash重置时,确定所述Flash中的静态程序通过完整性校验;在所述Flash中的静态程序通过完整性校验之后,对所述Flash中的数据分组进行正确性校验运算,获取全部分组的正确性校验结果并存储至预设的正确性校验结果存储器中;所述数据分组包括:所述Flash中的数据存储区中存储的数据部分,或,所述Flash中的数据存储区中存储的数据部分以及程序存储区中存储的程序部分;
接收中央处理器输出的指令;当所述中央处理器输出的指令为读取指令时,根据所述读取指令中携带的地址信息,从所述Flash中获取所述读取指令对应的目标数据,并从所述正确性校验结果存储器中选取出所述目标数据对应的目标校验值;
采用所述目标校验值对所述目标数据进行校验,并在校验成功后,将所述目标数据输出至所述中央处理器。
2.如权利要求1所述的Flash数据校验方法,其特征在于,还包括:
当所述中央处理器输出的指令为擦除指令时,对所述擦除指令对应的页进行擦除操作,并对所述正确性校验结果存储器中与所述擦除指令对应的页的校验值进行更新。
3.如权利要求2所述的Flash数据校验方法,其特征在于,在对所述正确性校验结果存储器中与所述擦除指令对应的页的校验值进行实时更新之后,还包括:
对所述擦除指令对应的页进行查空检查,以确定所述擦除指令正确执行;
对更新后的所述正确性校验结果存储器中与所述擦除指令对应的页的校验值进行检查,以确定更新后的校验值正确。
4.如权利要求1所述的Flash数据校验方法,其特征在于,还包括:
当所述中央处理器输出的指令为编程指令时,对所述编程指令对应地址的存储单元进行编程操作,并对所述正确性校验结果存储器中与所述编程指令对应的地址的校验值进行更新。
5.如权利要求4所述的Flash数据校验方法,其特征在于,在对所述正确性校验结果存储器中与所述编程指令对应的地址的校验值进行更新之后,还包括:
对所述编程指令对应地址的存储单元的编程数据进行检查,以确定所述编程指令正确执行;
对更新后的所述正确性校验结果存储器中与所述编程指令对应的地址的校验值进行检查,以确定更新后的校验值正确。
6.如权利要求1所述的Flash数据校验方法,其特征在于,还包括:
在采用所述目标校验值对所述目标数据进行校验,得到的正确性校验结果为校验失败时,获取校验失败的连续次数;
当校验失败的连续次数达到预设的目标阈值时,执行复位或中断操作;
当校验失败的连续次数未达到所述目标阈值时,重新根据所述读取指令读取所述目标数据,并采用所述目标校验值对所述目标数据进行校验。
7.如权利要求1~6任一项所述的Flash数据校验方法,其特征在于,所述正确性校验结果存储器独立于所述Flash设置。
8.一种Flash控制器,其特征在于,包括:
确定单元,用于在Flash上电或Flash重置时,确定所述Flash中的静态程序通过完整性校验;
第一校验单元,用于在所述确定单元确定所述Flash中的静态程序通过完整性校验之后,对所述Flash中的数据分组进行正确性校验运算,获取全部分组的正确性校验结果并存储至预设的正确性校验结果存储器中;所述数据分组包括:所述Flash中的数据存储区中存储的数据部分,或,所述Flash中的数据存储区中存储的数据部分以及程序存储区中存储的程序部分;
接收单元,用于接收中央处理器输出的指令;
获取单元,用于当所述中央处理器输出的指令为读取指令时,根据所述读取指令中携带的地址信息,从所述Flash中获取所述读取指令对应的目标数据,并从所述正确性校验结果存储器中选取出所述目标数据对应的目标校验值;
第二校验单元,用于采用所述目标校验值对所述目标数据进行校验;
发送单元,用于在校验成功后,将所述目标数据输出至所述中央处理器。
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