[发明专利]源极驱动器及显示装置

说明书

本申请公开了一种源极驱动器及显示装置，源极驱动器包括印刷电路板、覆晶薄膜、源极驱动芯片、第一连接线以及测试点，覆晶薄膜连接印刷电路板，源极驱动芯片封装于覆晶薄膜上且通过第一连接线连接显示面板，第一连接线连接测试点；覆晶薄膜上形成有导电图案，导电图案通过接地线接地，其中，导电图案包括尖端部，尖端部用于形成尖端放电效应释放测试点上的静电至所述接地线。通过上述方式，本申请能够在发生静电释放时通过尖端部将静电导走，从而避免静电释放通过测试点路径损伤驱动芯片。

技术领域

本申请涉及显示技术领域，特别是涉及一种源极驱动器及显示装置。

背景技术

液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)具有机身薄、省电、无辐射等众多优点，得到了广泛的应用，如：液晶电视、移动电话、个人数字助理(PDA)、数字相机、计算机屏幕或笔记本电脑屏幕等，在平板显示领域中占主导地位。

静电释放(Electro-Static Discharge，ESD)是指具有不同静电电位的物体互相靠近或直接接触引起的电荷转移，静电释放会产生上千伏的瞬时电压，造成静电击伤，使得液晶显示装置无法正常工作。为了避免静电击伤，在液晶显示装置的生产过程中需要进行ESD测试。

现有的COF(Chip On Flex,or,Chip On Film,覆晶薄膜)设计中，如图1，薄膜上会将源极驱动芯片输出走线的前面两个及后面两个输出通道拉出至测试点(Test Pad)，在进行源极驱动芯片输出pin ESD能力测试时，对着的4个测试点分别进行ESD放电静电释放，ESD放电路径如图红色路径所示。由于放电路径很短，整体走线阻抗很低，导致在进行源极驱动芯片ESD能力测试时，常常发生测试失败的现象。

发明内容

本申请提供一种源极驱动器及显示装置，能够解决现有技术中在进行源极驱动芯片ESD能力测试时测试失败的问题。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种源极驱动器，所述源极驱动器包括印刷电路板、覆晶薄膜、源极驱动芯片、第一连接线以及测试点，所述覆晶薄膜连接所述印刷电路板，所述源极驱动芯片封装于所述覆晶薄膜上且通过所述第一连接线连接所述显示面板，所述第一连接线连接所述测试点；所述覆晶薄膜上形成有导电图案，所述导电图案通过接地线接地，其中，所述导电图案包括尖端部，所述尖端部用于形成尖端放电效应释放所述测试点上的静电至所述接地线。

其中，所述导电图案包括连接部，所述连接部形成有测试空间，所述尖端部在所述连接部靠近所述测试空间的一侧与所述连接部连接，所述测试点位于所述测试空间内。

其中，所述尖端部的数量为多个，所述多个尖端部在所述测试点的周侧阵列排布。

其中，所述连接部靠近所述测试空间的一侧在所述覆晶薄膜上的投影至少部分呈弧形设置。

其中，所述第一连接线为多条，且沿一方向平行排布，所述测试点数量为4个，4个所述测试点分别连接所述多条第一连接中的前两条和后两条。

其中，所述接地线与所述覆晶薄膜输入侧的接地端电性连接。

为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种显示装置，所述显示装置包括显示面板及连接所述显示面板的源极驱动器，所述源极驱动器包括印刷电路板、覆晶薄膜、源极驱动芯片、第一连接线以及测试点，所述覆晶薄膜连接所述印刷电路板，所述源极驱动芯片封装于所述覆晶薄膜上且通过所述第一连接线连接所述显示面板，所述第一连接线连接所述测试点；所述覆晶薄膜上形成有导电图案，所述导电图案通过接地线接地，其中，所述导电图案包括尖端部，所述尖端部用于形成尖端放电效应释放所述测试点上的静电至所述接地线。

其中，所述尖端部的数量为多个，所述多个尖端部在所述测试点的周侧阵列排布。

其中，所述连接部靠近所述测试空间的一侧在所述覆晶薄膜上的投影至少部分呈弧形设置。