[发明专利]一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法

说明书

本发明公开了一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，所述方法包括步骤：步骤S1.待测样品的预处理，将待测样品进行过滤，去除微小杂质；步骤S2.用电子天平准确称量坩埚及带盖的重量，记为M0；步骤S3.在坩埚中加入预处理后的待测硼酸溶液样品，加盖后用电子天平称重，记为M1；步骤S4.将称重后的样品放入加热设备中进行加热，程序升温至600～1000℃；步骤S5.焙烧结束后，降至室温，取出坩埚，恒重，然后用电子天平对坩埚进行称重，记为M2；步骤S6.根据M0、M1、M2，计算硼酸的含量。本发明提供的染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，具有操作简单，易于实现，且人为干扰少，无需依赖大型仪器，成本低的特点，便于推广应用。

技术领域

本发明涉及硼酸浓度检测技术领域，特别涉及一种染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法。

背景技术

偏光片是LCD显示器件中一个十分重要的光学组成元件，在LCD显示器件内起到光学开关的作用，决定着光路的通过与闭合。在偏光片的生产制作过程中，偏光膜的加工处理工序是整个生产过程中最重要的一个工序，也是难度系数最大的一个工序。在偏光膜的加工处理工序中，需要使用硼酸作为交联剂，与偏光膜进行交联化反应，以加强偏光膜的尺寸稳定性；同时，硼酸也起到固色作用，有助于有机染料固定在偏光膜中，提高偏光膜的耐候性，在一定程度上决定着偏光片产品的品质优劣，因此如何有效监测偏光膜加工处理工序槽液中硼酸的含量对制作高品质的偏光片产品有着十分重要的意义。

在实际生产过程中，偏光膜在染着槽中完成有机染料染色处理后，再进入硼酸槽中进行拉伸和交联化处理时，偏光膜上的有机染料会或多或少带入到硼酸槽中，主要有机染料包括偶氮类二色性染料(具体分为双偶氮类和三偶氮类两大类)、蒽醌类二色性染料、三苯二嗪及衍生物类二色性染料、单甲川和多甲川类二色性染料等，这些有机染料的存在，使得对硼酸含量的准确检测带来了不少的干扰。

目前，对于硼酸含量的测试方法有仪器法：分光光度法、电位滴定法、电感耦合等离子体发射光谱法，以及化学分析法：中和滴定法。其中，仪器分析法常常需要做检测前衍生处理、分析干扰因素多、检测分析过程操作较为繁琐，检测设备投入费用高；而中和滴定法是目前大多数偏光片生产厂家常用的化学检测方法，但是中和滴定法在滴定终点判断时，人为干扰比较大，不同的分析操作人员对指示剂终点的判断存在偏差，导致同一组样品，不同的分析人员得到的分析结果存在不同程度的偏差，这种情况对监控硼酸含量带来一定的难度。

偏光膜加工处理工序中硼酸含量的准确测试，尤其是针对带有有机染料的硼酸含量的有效准确测试对偏光片产品流程的管控具有十分重要的影响作用，也是偏光片制造行业中一个亟待解决的问题，然而，当前国内却是几乎没有专门针对偏光片行业关于此类问题的文献和专利报道。可见，现有技术还有待改进和提高。

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种染料系染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，旨在解决现有技术中针对带有机染料的偏光膜加工槽液中的硼酸含量的测定，没有一种准确可靠，操作方便的方法。

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案：

一种染料系染料系偏光膜加工槽液中硼酸含量的测定方法，其中，所述方法包括步骤：

步骤S1.待测样品的预处理，将待测样品进行过滤，去除微小杂质；

步骤S2.用电子天平准确称量坩埚及带盖的重量，记为M0；

步骤S3.在坩埚中加入预处理后的待测硼酸溶液样品，加盖后用电子天平称重，记为M1；

步骤S4.将称重后的样品放入加热设备中进行加热，程序升温至600～ 1000℃；

步骤S5.焙烧结束后，降至室温，取出坩埚，恒重，然后用电子天平对坩埚进行称重，记为M2；

步骤S6.根据M0、M1、M2，计算硼酸的含量。