[发明专利]一种集成电路测试方法在审
| 申请号： | 201911294300.4 | 申请日： | 2019-12-16 |
| 公开（公告）号： | CN110927560A | 公开（公告）日： | 2020-03-27 |
| 发明（设计）人： | 周国成 | 申请（专利权）人： | 无锡矽鹏半导体检测有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 | 代理人： | 朱晓林 |
| 地址： | 214000 江苏省无锡*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 集成电路 测试 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种集成电路测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
S1：集成电路的输入管脚接入信号源，所述信号源向集成电路输入的信号可调；
S2：测试开始，调节所述信号源的输出信号值至测量起始值，然后大步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，记为第一跳变值，然后进入步骤S3；
S3：将所述信号源输出的信号值从第一跳变值后退两个大步距，记为第二测量起始值；
S4：再次测试，调节所述信号源的输出信号值至第二测量起始值，然后小步距调节所述信号源输出的信号值，并观察集成电路输出管脚是否发生状态跳变，如果发生状态跳变，记录当前所述信号源输出的信号值大小，停止测试；
上述步骤S2与S3中的大步距是将所述信号源输出信号的测量终值减去测量起始值后再除以15到20中的任一整数得到，上述步骤S4中的小步距是大步距的十分之一。
2.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于：所述信号源包括电压源或者电流源。
3.根据权利要求1所述的集成电路测试方法，其特征在于：所述信号源输出信号的幅度、频率和占空比可调。
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