[发明专利]一种金属铟修饰的硅光电阴极薄膜制备方法和应用在审

专利信息
申请号: 201911291731.5 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN110904474A 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 罗文俊;胡文健;董洪政;任斐隆;宋文涛;邹志刚 申请(专利权)人: 南京大学;南京大学昆山创新研究院
主分类号: C25D3/54 分类号: C25D3/54;C25D5/54;C25D17/00;C25B1/04;C25B1/00;C25B3/04;C25B11/04
代理公司: 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 代理人: 陈建和
地址: 210093 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 金属 修饰 光电 阴极 薄膜 制备 方法 应用
【权利要求书】:

1.一种金属铟修饰硅光电阴极薄膜的方法,其特征在于:

1)将硅片依次置于有机溶剂清洗剂和去离子水中超声清洗30±10分钟,其后将硅片放入10±5%氢氟酸水溶液中刻蚀20-100秒备用;

2)将金属铟盐In(NO3)3·4H2O或InCl3溶解于1±0.3M NaNO3溶液中,制得0.02M的In(NO3)3·4H2O或InCl3溶液,用于光辅助硅光电极的电沉积;

3)将清洗好的硅片与电化学工作站连接,在-1.0V(vs.SCE)电位下,通过紫外可见光照30±10秒,得到金属铟修饰的硅光电阴极薄膜。

2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤(1)中的有机溶剂清洗剂包括但不限于丙酮、乙醇以及甲醇等。

3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,用于沉积的金属铟盐溶液包括但不限于In(NO3)3·5H2O,InCl3等。

4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,光辅助电沉积过程应处于室温和光强稳定的条件下进行。

5.一种根据权利要求1-4之一制备得到的金属铟修饰的硅光电阴极薄膜在光电催化水分解、二氧化碳还原反应中的应用。

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