[发明专利]硅微陀螺仪振动状态角位移误差测试方法有效
申请号: | 201911288399.7 | 申请日: | 2019-12-16 |
公开(公告)号: | CN111121819B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 吕东;王虹;张萌;吴妍;沈笛宇 | 申请(专利权)人: | 南京理工大学 |
主分类号: | G01C25/00 | 分类号: | G01C25/00 |
代理公司: | 南京理工大学专利中心 32203 | 代理人: | 吴茂杰 |
地址: | 210094 *** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 陀螺仪 振动 状态 位移 误差 测试 方法 | ||
1.一种硅微陀螺仪振动状态角位移误差测定方法,包括如下步骤:
(10)共轴放置:将角振动台固定在转台轴心处,将硅微陀螺仪固定安装在角振动台机内,使陀螺仪的敏感轴、角振动台的振动轴与转台共轴;
(20)实验前零漂信号测量:转台静止状态下,给硅微陀螺仪、转台上电,预热陀螺仪至零偏稳定,连续采集在实验前零漂状态下硅微陀螺仪的零漂输出信号;
(30)旋转状态信号测量:转台以不同转速旋转,采集不同转速下硅微陀螺仪的旋转状态输出信号;
(40)实验后零漂信号测量:转台重归静止状态,连续采集在实验后零漂状态下硅微陀螺仪的零漂输出信号;
(50)标度因数获取:根据实验前后零漂信号和旋转状态信号,计算得到陀螺仪输出信号与输入角速率的线性斜率,即标度因数;
(60)振动状态信号测量:转台静止状态下,角振动台以不同频率、不同振幅振动,采集不同频率、不同振幅下硅微陀螺仪的振动状态输出信号;
(70)角位移误差计算:根据振动状态输出信号和标度因数,计算得到振动状态下陀螺仪在振动过程中随时间积累的角位移误差;
所述(30)旋转状态信号测量步骤具体为:
开启转台,设置转速r以步进Δr从0,r1,…,rm逐渐增大至最大rm,再以相同步进从rm,rm+1,…,r2m-1,0逐渐减小至0,且rk=r2m-k,k=0,1,…,m,在每个速度持续相同时间并进行点数为q的输出信号采样,保存数据Fk,j、F2m-k,j,
其中,对应的Fk,j为转速增加到rk时采集陀螺仪输出信号,F2m-k,j为转速减小到r2m-k时采集陀螺仪旋转状态输出信号;
其特征在于,所述(50)标度因数获取步骤包括:
(51)平均零偏信号计算:按下式计算平均零偏信号,
式中,F前i为实验前零漂输出信号,F后i为实验后零漂输出信号,i=1,2,…,p,p为零漂输出信号采集点数;
(52)平均旋转状态输出信号计算:按下式计算不同转速对应的平均旋转状态输出信号,
其中,对应的Fk,j为转速增加到rk时采集陀螺仪输出信号,F2m-k,j为转速减小到r2m-k时采集陀螺仪输出信号,j=1,2,…,q,q为每个速度下采样点数,k=0,1,…,m,m为输入不同速度个数;
(53)真实输出信号计算:按下式计算扣除零偏后,不同转速对应的真实旋转状态输出信号,
其中,为不同转速下平均旋转状态输出信号,为平均零偏信号,k=0,1,…,m,m为输入不同速度个数;
(54)标度因数计算:按下式计算陀螺仪真实旋转状态输出信号与输入角速率的线性斜率,即陀螺仪标度因数K值,
其中,rk为输入角速率,Fk为扣除零偏后平均输出信号,k=1,…,m,m为输入不同速度个数。
2.根据权利要求1所述的角位移误差测定方法,其特征在于,所述(60)振动状态信号测量步骤具体为:
设置角振动台频率为f0,振幅为开启角振动台持续时间v·Δt进行点数为v·b输出信号采样,v为采样周期个数,Δt为每个采样周期时间,b为每个采样周期采集点数,关闭振动台保存数据。
3.根据权利要求2所述的角位移误差测定方法,其特征在于,所述(70)角位移误差计算步骤包括:
(71)敏感输入角速率计算:按下式计算每个采样周期Δt内陀螺仪敏感到的输入角速率,
其中,Fs为每个采样周期下的输出信号,s=1,2,…,b,b为每个采样周期采集点数,a=1,2,…,v,v为采样周期个数;
(72)角位移偏差计算:按下式计算振动状态下,陀螺仪振动误差随时间积累的角位移偏差,
其中,a=1,2,…,v,v为采样周期个数。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学,未经南京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911288399.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。