[发明专利]硅微陀螺仪振动状态角位移误差测试方法有效

专利信息
申请号: 201911288399.7 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN111121819B 公开(公告)日: 2022-07-12
发明(设计)人: 吕东;王虹;张萌;吴妍;沈笛宇 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01C25/00 分类号: G01C25/00
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 吴茂杰
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 陀螺仪 振动 状态 位移 误差 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种硅微陀螺仪振动状态角位移误差测定方法,包括如下步骤:

(10)共轴放置:将角振动台固定在转台轴心处,将硅微陀螺仪固定安装在角振动台机内,使陀螺仪的敏感轴、角振动台的振动轴与转台共轴;

(20)实验前零漂信号测量:转台静止状态下,给硅微陀螺仪、转台上电,预热陀螺仪至零偏稳定,连续采集在实验前零漂状态下硅微陀螺仪的零漂输出信号;

(30)旋转状态信号测量:转台以不同转速旋转,采集不同转速下硅微陀螺仪的旋转状态输出信号;

(40)实验后零漂信号测量:转台重归静止状态,连续采集在实验后零漂状态下硅微陀螺仪的零漂输出信号;

(50)标度因数获取:根据实验前后零漂信号和旋转状态信号,计算得到陀螺仪输出信号与输入角速率的线性斜率,即标度因数;

(60)振动状态信号测量:转台静止状态下,角振动台以不同频率、不同振幅振动,采集不同频率、不同振幅下硅微陀螺仪的振动状态输出信号;

(70)角位移误差计算:根据振动状态输出信号和标度因数,计算得到振动状态下陀螺仪在振动过程中随时间积累的角位移误差;

所述(30)旋转状态信号测量步骤具体为:

开启转台,设置转速r以步进Δr从0,r1,…,rm逐渐增大至最大rm,再以相同步进从rm,rm+1,…,r2m-1,0逐渐减小至0,且rk=r2m-k,k=0,1,…,m,在每个速度持续相同时间并进行点数为q的输出信号采样,保存数据Fk,j、F2m-k,j

其中,对应的Fk,j为转速增加到rk时采集陀螺仪输出信号,F2m-k,j为转速减小到r2m-k时采集陀螺仪旋转状态输出信号;

其特征在于,所述(50)标度因数获取步骤包括:

(51)平均零偏信号计算:按下式计算平均零偏信号,

式中,F前i为实验前零漂输出信号,F后i为实验后零漂输出信号,i=1,2,…,p,p为零漂输出信号采集点数;

(52)平均旋转状态输出信号计算:按下式计算不同转速对应的平均旋转状态输出信号,

其中,对应的Fk,j为转速增加到rk时采集陀螺仪输出信号,F2m-k,j为转速减小到r2m-k时采集陀螺仪输出信号,j=1,2,…,q,q为每个速度下采样点数,k=0,1,…,m,m为输入不同速度个数;

(53)真实输出信号计算:按下式计算扣除零偏后,不同转速对应的真实旋转状态输出信号,

其中,为不同转速下平均旋转状态输出信号,为平均零偏信号,k=0,1,…,m,m为输入不同速度个数;

(54)标度因数计算:按下式计算陀螺仪真实旋转状态输出信号与输入角速率的线性斜率,即陀螺仪标度因数K值,

其中,rk为输入角速率,Fk为扣除零偏后平均输出信号,k=1,…,m,m为输入不同速度个数。

2.根据权利要求1所述的角位移误差测定方法,其特征在于,所述(60)振动状态信号测量步骤具体为:

设置角振动台频率为f0,振幅为开启角振动台持续时间v·Δt进行点数为v·b输出信号采样,v为采样周期个数,Δt为每个采样周期时间,b为每个采样周期采集点数,关闭振动台保存数据。

3.根据权利要求2所述的角位移误差测定方法,其特征在于,所述(70)角位移误差计算步骤包括:

(71)敏感输入角速率计算:按下式计算每个采样周期Δt内陀螺仪敏感到的输入角速率,

其中,Fs为每个采样周期下的输出信号,s=1,2,…,b,b为每个采样周期采集点数,a=1,2,…,v,v为采样周期个数;

(72)角位移偏差计算:按下式计算振动状态下,陀螺仪振动误差随时间积累的角位移偏差,

其中,a=1,2,…,v,v为采样周期个数。

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