[发明专利]一种用于光敏三级管空间位移效应检测方法有效
| 申请号： | 201911262362.7 | 申请日： | 2019-12-11 |
| 公开（公告）号： | CN111060796B | 公开（公告）日： | 2022-06-24 |
| 发明（设计）人： | 汪波;牛睿;刘伟鑫;陈敏花;查理;孔泽斌 | 申请（专利权）人： | 上海精密计量测试研究所;上海航天控制技术研究所 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人： | 余岢;圣冬冬 |
| 地址： | 201109 *** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 用于 光敏 三级 空间 位移 效应 检测 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于光敏三级管空间位移效应检测方法，其特征在于，包括步骤：
步骤1：将辐照电路单元送入位于质子加速器束流出口处；其中，辐照电路单元包括：光电转换单元、电压采集单元、偏置电路以及至少两个光敏三级管；
步骤2：加工作电压对辐照电路单元进行辐照前通电测试，确保其能正常工作；
步骤3：开始质子辐照试验，试验过程中通过路径选通切换单元实时记录采样电压；
步骤4：改变试验条件，测试光敏三级管质子辐射下的测试数据。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述路径选通切换单元包括通道切换单元、程控电源以及六位半数字电压表；
其中，通道切换单元用于切换所述辐照电路单元中的光敏三极管；程控电源用于对所述辐照电路单元加点；六位半数字电压表用于测量光敏三极管的电压。
3.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述改变试验条件包括采用不同偏置电路。
4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述不同偏置电路包括电平检测电路与差分检测电路。
5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述改变试验条件包括采用不同屏蔽加固方式。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述不同屏蔽加固方式包括金属屏蔽、金属与非金属混合屏蔽。
7.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述改变试验条件包括采用不同能量的质子。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海精密计量测试研究所;上海航天控制技术研究所，未经上海精密计量测试研究所;上海航天控制技术研究所许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911262362.7/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
