[发明专利]物体的轮廓测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质

说明书

本申请涉及一种物体的轮廓测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质，方法包括：当光栅投影仪分别向物体投射多幅具有相位差的光条纹时，获取由相机依次拍摄经过所述物体反射而成的光条纹，得到条纹图像；通过各所述条纹图像计算相位信息；将所述相位信息转化为所述物体中相应点的高度值；根据所述物体中各点的水平坐标值和对应的所述高度值，确定所述物体的轮廓。本申请提供的方案可以确定物体的轮廓。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种物体的轮廓测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

背景技术

在电子产品制造领域中，通常是通过夹治具固定加工产品，并结合机械定位和二维视觉定位来提高电子元器件的加工精度。随着电子产品的向高集成度趋势发展，电子元器件的尺寸越来越小，相应的对电子元器件的加工精度要求也越来越高。

然而，传统方案无法精确地测量产品的三维轮廓，导致所加工的产品精度较低。

发明内容

基于此，有必要针对传统方案无法精确地测量产品的三维轮廓，导致所加工的产品精度较低的技术问题，提供一种物体的轮廓测量方法、装置、计算机设备和可读存储介质。

一种物体的轮廓测量方法，包括：

当光栅投影仪分别向物体投射多幅具有相位差的光条纹时，获取由相机依次拍摄经过所述物体反射而成的光条纹，得到条纹图像；

通过各所述条纹图像计算相位信息；

将所述相位信息转化为所述物体中相应点的高度值；

根据所述物体中各点的水平坐标值和对应的所述高度值，确定所述物体的轮廓。

在一个实施例中，所述通过各所述条纹图像计算相位信息，包括：

获取各所述条纹图像中各点的光强；

根据所述条纹图像中各点的光强计算相位信息。

在一个实施例中，所述根据所述条纹图像中各点的光强计算相位信息，包括：

确定所述条纹图像的数量；

将预设角度值与所述条纹图像的数量的比值作为所述条纹图像的相位差值；

根据所述条纹图像的相位差值和所述光强计算相位信息。

在一个实施例中，所述将所述相位信息转化为所述物体中相应点的高度值，包括：

获取所述相机的标定参数；

将所述标定参数与所述相位信息的乘积确定为所述物体对应的高度值。

在一个实施例中，所述方法还包括：

当所述物体平面尺寸大于所述相机的视场区域时，通过蚁群算法确定所述物体的各检测窗口；

通过遗传算法，确定所述相机在拍摄各所述检测窗口时的移动路径；

根据所述移动路径移动所述物体，以使所述物体的各检测窗口分别接收到所述光栅投影仪投射的多幅具有相位差的光条纹。

在一个实施例中，所述通过蚁群算法确定所述物体的各检测窗口，包括：

遍历所述物体上的各目标对象；

在所述物体中，确定用于框定各所述目标对象所采用的最少检测窗口。

在一个实施例中，所述方法还包括：

获取透视变换矩阵模型；

基于所述透视变换矩阵模型计算所述相机的初始标定参数；

利用非线性最优化方法调整所述初始标定参数，得到标定参数；