[发明专利]时间交织逐次逼近型模数转换器及其校准方法

权利要求书

1.一种时间交织逐次逼近型模数转换器TISAR ADC的校准方法，包括：

对输入至所述TISAR ADC的模拟信号进行采样，以生成参考数字信号；

根据所述参考数字信号和所述TISAR ADC的各个模数转换子模块生成的输出数字信号获得各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数和各个所述模数转换子模块的时延校准参数；

根据各个所述电容阵列校准参数分别调整对应的所述模数转换子模块的电容阵列；

根据各个所述时延校准参数分别调整对应的所述模数转换子模块的时间延迟。

2.根据权利要求1所述的校准方法，其中，根据所述参考数字信号和所述TISAR ADC的各个模数转换子模块生成的输出数字信号获得各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数和各个所述模数转换子模块的时延校准参数的步骤包括：

分别计算各个所述模数转换子模块生成的输出数字信号的数值与在对应的采样时刻所述参考数字信号的数值之间的差值；

根据计算获得的各个所述差值分别计算各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数；

根据计算获得的各个所述差值分别计算各个所述模数转换子模块的时延校准参数。

3.根据权利要求2所述的校准方法，其中，根据计算获得的各个所述差值分别计算各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数的步骤包括：

根据各个所述差值分别计算各个所述模数转换子模块的电容阵列的权重误差；

根据所述权重误差计算对应的所述模数转换子模块的电容阵列的校准权重，将各个所述校准权重作为各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数。

4.根据权利要求2所述的校准方法，其中，根据计算获得的各个所述差值分别计算各个所述模数转换子模块的时延校准参数的步骤包括：

分别计算每一个所述模数转换子模块在不同的采样时刻对应的所述差值的平方和；

对于每一个所述模数转换子模块，根据所述平方和计算对应的所述模数转换子模块的模拟延时线数字控制码，将各个所述模拟延时线数字控制码作为各个所述模数转换子模块的时延校准参数。

5.根据权利要求1至4中任意一项所述的校准方法，其中，在对输入至所述TISAR ADC的模拟信号进行采样，以生成参考数字信号的步骤之前，所述校准方法还包括：

检测所述TISAR ADC的温度；

在预定时间内采集到的所述温度超出预定范围的情况下，执行对输入至所述TISARADC的模拟信号进行采样，以生成参考数字信号的步骤。

6.根据权利要求1至4中任意一项所述的校准方法，其中，在对输入至所述TISAR ADC的模拟信号进行采样，以生成参考数字信号的步骤之后，所述校准方法还包括：

判断所述参考数字信号和所述TISAR ADC的输出数字信号的差值是否大于第一门限值；

在所述参考数字信号和所述TISAR ADC的输出数字信号的差值大于所述第一门限值的情况下，执行根据所述参考数字信号和所述TISAR ADC的各个模数转换子模块生成的输出数字信号获得各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数和各个所述模数转换子模块的时延校准参数的步骤。

7.根据权利要求1至4中任意一项所述的校准方法，其中，在对输入至所述TISAR ADC的模拟信号进行采样，以生成参考数字信号的步骤之后，所述校准方法还包括：

判断所述参考数字信号和所述TISAR ADC的输出数字信号的差值是否小于第二门限值；

在所述参考数字信号和所述TISAR ADC的输出数字信号的差值小于所述第二门限值的情况下，停止执行根据所述参考数字信号和所述TISAR ADC的各个模数转换子模块生成的输出数字信号获得各个所述模数转换子模块的电容阵列校准参数和各个所述模数转换子模块的时延校准参数的步骤。