[发明专利]组件清洗时长的设置方法及装置

权利要求书

1.一种组件清洗时长的设置方法，其特征在于，用于实现对于光伏方阵中各待清洗组件的清洗时长设置，所述组件清洗时长的设置方法包括：

在满足清洗条件时，控制所述光伏方阵中测试组件进行清洗，并实时采集所述测试组件与所述光伏方阵中参考组件的短路电流；所述测试组件与所述参考组件为相同型号、相同安装位置的两个组件，且所述参考组件为满足洁净要求的组件；

判断所述测试组件与所述参考组件之间的短路电流差值是否小于等于预设差值；

若所述短路电流差值小于等于所述预设差值，则确定所述测试组件的清洗时长；

以所述测试组件的清洗时长与预设延迟时长之和，作为各待清洗组件的清洗时长。

2.根据权利要求1所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，所述预设差值小于等于所述参考组件的短路电流的10％；

或者，

所述预设差值小于等于0.5A。

3.根据权利要求1所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，所述预设延迟时长大于等于0。

4.根据权利要求1所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，所述洁净要求为：

每天清洗；

或者，

仅在执行所述组件清洗时长的设置方法时才打开表面防尘罩。

5.根据权利要求1-4任一所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，所述清洗条件包括：所述参考组件与所述测试组件之间的短路电流比值大于预设比值；

在控制所述光伏方阵中测试组件进行清洗之前，还包括：

实时采集所述测试组件与所述参考组件的短路电流；

判断所述测试组件与所述参考组件的短路电流是否满足所述清洗条件。

6.根据权利要求5所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，所述预设比值为8。

7.根据权利要求5所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，所述清洗条件还包括：

光照辐射度大于预设辐射度；

或者，

当前时间处于高辐射度时间内。

8.根据权利要求7所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，判断所述测试组件与所述参考组件的短路电流是否满足所述清洗条件之后，还包括：

若所述测试组件与所述参考组件的短路电流不满足所述清洗条件，则以上次执行所述组件清洗时长的设置方法时得到的结果作为此次各待清洗组件的清洗时长。

9.根据权利要求1-4任一所述的组件清洗时长的设置方法，其特征在于，确定所述测试组件的清洗时长，包括：

确定从控制所述光伏方阵中测试组件进行清洗到所述短路电流差值小于等于所述预设差值的持续时长为所述测试组件的清洗时长。

10.一种组件清洗时长的设置装置，其特征在于，包括：处理器和存储器；其中：

所述处理器用于执行所述存储器中存储的各程序；

所述存储器中存储的程序包括如权利要求1-9任一所述的组件清洗时长的设置方法。