[发明专利]测试用例解析方法、装置、存储介质及验证平台

说明书

本申请实施例公开了一种测试用例解析方法、装置、存储介质及验证平台，属于测试技术领域。所述方法包括：获取验证平台中目标层级的第一配置对象的测试用例，测试用例的变量名中包含第一配置对象的上下文；获取第二配置对象的配置信息，第二配置对象是目标层级的下级或同级的配置对象，所述配置信息的变量名中包含所述第二配置对象的上下文；根据所述配置信息对测试用例进行解析，得到第一配置对象的配置语句队列，配置语句队列的变量名中包含第一配置对象的上下文。本申请实施例在解析第一配置对象的测试用例时，复用第二配置对象的配置信息，从而避免编写第一配置对象的配置信息，简化了配置流程。

技术领域

本申请实施例涉及测试技术领域，特别涉及一种测试用例解析方法、装置、存储介质及验证平台。

背景技术

验证环境由验证平台、测试用例描述文件和与其对应的预处理解析脚本组成。请参考图1，验证平台包括ENV和测试序列(sequence)，该ENV与被测器件相连，该测试序列负责向ENV发送事务级的操作请求。其中，ENV和测试序列都被开发成可配置的形式，且对外开放的配置变量可以集成到一个配置对象中。比如，env_cfg中包括ENV的配置变量，seq_reg_cfg中包括测试序列的配置变量。这些配置变量在仿真开始时通过查询或匹配仿真工具接收到的test_plusargs来获取具体的配置值，并将其传递至ENV或测试用例以供使用。测试用例描述文件是测试用例的集合，每个测试用例由若干具有单变量的配置语句组成，该配置语句用来指定配置对象中指定变量的配置值。预处理解析脚本负责在测试用例描述文件中定位出指定测试用例，从该指定测试用例中抽取出所有配置语句，并在仿真开始前以test_plusargs的形式送给仿真工具。

随着被测器件的规模不断增加，在单一层次上完成被测器件的所有验证工作已变得不再实际。开发人员会根据被测器件的规模和功能相关性，将该被测器件由上至下分解为若干不同层级的功能单元。例如，一个SOC(System on Chip，片上系统)可能会被分解为若干sub-system(子系统)，一个sub-system可能会被分解为若干module(模块)，一个module会被分解为若干sub-module(子模块)。此时，需要在不同的层级上为这些功能单元分别搭建验证平台，并编写对应的测试用例。

由于ENV、测试序列、配置对象等验证组件具有模块化特性，所以，这些验证组件可以在不同层级上被直接或递归式的复用。为了避免复用时可能出现的命名冲突，也为了使测试用例更易于理解和维护，可以根据配置对象的上下文(全层级实例名)在test-plusargs中进行查询操作或匹配操作，对应的，配置对象的配置语句中需要包含配置对象的上下文。然而，由于同一配置对象在不同层级会有不同的上下文，这就导致配置信息无法在不同的层级间复用。

发明内容

本申请实施例提供了一种测试用例解析方法、装置、存储介质及验证平台，用于解决配置信息无法在不同的层级间复用的问题。所述技术方案如下：

一方面，提供了一种测试用例解析方法，所述方法包括：

获取验证平台中目标层级的第一配置对象的测试用例，所述测试用例的变量名中包含所述第一配置对象的上下文；

获取第二配置对象的配置信息，所述第二配置对象是所述目标层级的下级或同级的配置对象，所述配置信息的变量名中包含所述第二配置对象的上下文；

根据所述配置信息对所述测试用例进行解析，得到所述第一配置对象的配置语句队列，所述配置语句队列的变量名中包含所述第一配置对象的上下文。

一方面，提供了一种测试用例解析装置，所述装置包括：

获取模块，用于获取验证平台中目标层级的第一配置对象的测试用例，所述测试用例的变量名中包含所述第一配置对象的上下文；

所述获取模块，还用于获取第二配置对象的配置信息，所述第二配置对象是所述目标层级的下级或同级的配置对象，所述配置信息的变量名中包含所述第二配置对象的上下文；