[发明专利]一种基于TDM技术的光纤环腔衰荡温湿度测量方法

权利要求书

1. 一种基于TDM技术的光纤环腔衰荡温湿度测量方法，其特征在于：光纤环腔衰荡温湿度测量系统包括1525~1565nm的ASE宽带光源、偏振控制器、系统电源、函数信号发生器、强度调制器、光纤耦合器I、光纤耦合器II、光纤耦合器III、光纤耦合器IV、光纤耦合器V、光纤延迟线、光纤错位干涉仪、光纤对准气室、自动增益掺铒光纤放大器、光电探测器和示波器，其中ASE宽带光源经偏振控制器形成偏振光，函数信号发生器通过电线与强度调制器相连用于产生载波信号，系统电源通过电线与强度调制器相连，偏振光经强度调制器生成激光脉冲再经2*2、50%:50%的光纤耦合器I进入传感环路中，光纤耦合器I输出的一端经长度70m的光纤进入2*1、5%:95%光纤耦合器II中，光纤耦合器II的一端经光纤错位干涉仪耦合进入光纤耦合器I中；光纤耦合器I输出的另一端经长度200m的光纤延迟线进入2*1、50%:50%的光纤耦合器III中，光纤耦合器III的输出端经长度70m的光纤连接光纤耦合器IV并经光纤对准气室回到光纤耦合器III中；2*1、5%:95%的光纤耦合器IV的5%输出端和光纤耦合器II的5%输出端的衰荡信号同时耦合进入2*1、50%:50%的光纤耦合器V 中，光纤耦合器V的输出光强由自动增益掺铒光纤放大器放大并经光电探测器转换成电信号，最终在示波器上显示出来，再通过对示波器显示的两个衰荡信号衰荡时间与温度或湿度物理参量的线性拟合，最终达到温度和湿度的同时传感测量。

2.根据权利要求1所述的基于TDM技术的光纤环腔衰荡温湿度测量方法，其特征在于：所述ASE宽带光源的输出功率为16mW，脉冲宽度为42ns，周期为430s，长度200m的光纤延迟线用于区别两个环路的衰减信号，测量过程中通过电子温湿度计对两个传感单元进行参考测量。