[发明专利]一种图像传感器的黑电平校正方法有效

专利信息
申请号: 201911235568.0 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN110855913B 公开(公告)日: 2022-04-01
发明(设计)人: 喻义淞;王勇;温建新;何云;宋博 申请(专利权)人: 成都微光集电科技有限公司
主分类号: H04N5/361 分类号: H04N5/361;H04N5/217
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;马盼
地址: 610041 四川省成都市高新*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 图像传感器 电平 校正 方法
【权利要求书】:

1.一种图像传感器的黑电平校正方法,用于在数字信号处理模块中进行黑电平校正;所述图像传感器包括图像产生模块、所述图像产生模块包括黑电平区域和有效像素区域,黑电平区域产生的像素值用于对有效像素区域产生的像素值进行校正;其特征在于,包括如下步骤:

S01:采用高速校正模式依次对第一帧图像数据至第N帧图像数据进行校正,其中,所述高速校正模式的具体校正方法为:将黑电平反馈值的平均值作为校正值;所述黑电平反馈值为该图像数据中黑电平区域中所有像素的平均值;N为大于0的正整数;

S02:采用低速校正模式依次对第N+1帧图像数据至第M帧图像数据进行校正,M为大于N的正整数;所述低速校正模式的具体校正方法包括为:

S021:依次校正第N+1帧至第M-1帧图像数据,其校正值均为第N帧图像数据的校正值;

S022:校正第M帧图像数据,

若(DIFFTH0)且(DIFFTH1),则:AFBM=AFBM-1+△,并采用低速校正模式依次对M+1帧图像数据至第L帧图像数据进行校正;L为大于M的正整数;

若(DIFF-TH0)且(DIFF-TH1),则:AFBM=AFBM-1-△,并采用低速校正模式依次对M+1帧图像数据至第L帧图像数据进行校正;

若(DIFFTH0)且(DIFF-TH0),则:AFBM=AFBM-1,并采用低速校正模式依次对M+1帧图像数据至第L帧图像数据进行校正;

若(DIFFTH1)或(DIFF-TH1),则将第M帧图像数据重新定义为第一帧图像数据,返回步骤S01;

其中,DIFF=NFRAME_AVEM-AFBM-1,NFRAME_AVEM表示第N+1帧图像数据至第M帧图像数据黑电平反馈值的平均值;AFB_XM-1表示第N帧图像数据的校正值,AFBM表示第M帧图像数据的校正值;TH0表示校正值反映阈值;TH1表示低速到高速变化阈值;△表示校正值变化步距;

S03:重复步骤S01-S02,直至所述图像产生模块产生的图像数据均被校正。

2.根据权利要求1所述的一种图像传感器的黑电平校正方法,其特征在于,所述步骤S02中M等于2N,L等于2M。

3.根据权利要求1所述的一种图像传感器的黑电平校正方法,其特征在于,所述高速校正模式的具体校正方法为:针对第P帧图像数据,若P=2a,a为大于等于0的整数,则第P帧图像数据的校正值为第1帧至第P帧黑电平反馈值的平均值;若P≠2a,则第P帧图像数据的校正值为第P-1帧图像数据的校正值,P为大于0小于等于N的正整数。

4.根据权利要求1所述的一种图像传感器的黑电平校正方法,其特征在于,所述高速校正模式的具体校正方法为:第P帧图像数据的校正值为第1帧至第P帧黑电平反馈值的平均值,P为大于0小于等于N的正整数。

5.根据权利要求1所述的一种图像传感器的黑电平校正方法,其特征在于,所述步骤S01和步骤S02中将图像数据中黑电平区域和有效像素区域分为S个通道,并依次对每个通道进行校正;S为大于0的正整数。

6.根据权利要求1所述的一种图像传感器的黑电平校正方法,其特征在于,所述黑电平反馈值其中,Xi表示该帧图像数据中黑电平区域中第i个像素的像素值,b表示该帧图像数据中黑电平区域包括b个像素,b为大于0的正整数。

7.根据权利要求1所述的一种图像传感器的黑电平校正方法,其特征在于,所述图像传感器达到转换条件时,其对应产生的图像数据跳转至高速模式进行校正;其中,所述转换条件为下列一种或几种:图像传感器的温度变化范围大于温度阈值、曝光变化范围大于曝光阈值、增益变化范围大于增益阈值。

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