[发明专利]信号合成方法及装置、存储介质、电子装置有效
申请号: | 201911224382.5 | 申请日: | 2019-12-03 |
公开(公告)号: | CN111147116B | 公开(公告)日: | 2023-04-04 |
发明(设计)人: | 付俭伟;马春香;武宏伟 | 申请(专利权)人: | 北京万集科技股份有限公司 |
主分类号: | H04B7/06 | 分类号: | H04B7/06 |
代理公司: | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人: | 王晓婷 |
地址: | 100193 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 信号 合成 方法 装置 存储 介质 电子 | ||
1.一种信号合成方法,其特征在于,包括:
对于具有N个通道的阵列天线,获取N个通道中工作状态正常的M个通道的M路信号,其中,N和M均为正整数,N大于或等于M;
根据已经计算得到的第一数字合成信号计算得到构造载波信号;
分别计算所述M路信号与构造载波信号的采样延迟和相位延迟;并根据确定的采样延迟和相位延迟对所述M路信号进行调整,得到调整后的M路调整信号;
对所述M路调整信号进行合成,得到第一数字合成信号。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,对所述M路调整信号进行合成,得到数字合成信号之前,所述方法还包括:
通过以下公式分别确定M路信号与构造载波信号的卷积大小:
其中,Cr(k)表示构造载波信号的实部,Sr(d+k)为M路信号的实部,d为所有的采样延迟,取值范围为0到R,R=L/(cT),其中,L为阵列天线两两阵元之间的最大距离,c为光速,T为所述阵列天线所对应的芯片的采样周期,其中,将卷积大小为最大时对应的信号延迟d,作为当前通道信号的采样延迟。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,通过以下公式计算所述M路信号与构造载波信号的相位延迟:
其中,N为采样点的个数,S(k+i)为所述M路信号的复数域表达式,所述C(k+i)为所述构造载波信号。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,通过以下公式确定所述第一数字合成信号:
其中,di'为第i路信号的采样延迟,σi(k)为第i路信号的相位延迟。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,分别计算所述M路信号与构造载波信号的采样延迟和相位延迟之前,所述方法还包括:
通过以下公式计算得到构造载波信号的实部信号和虚部信号Cr(k)和Ci(k):
其中,ε(k)通过以下公式确定:确定,其中,δ(k)为构造载波相差ε(k)与计算得到的第一数字合成信号相位差平均值的差值。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,通过以下公式确定所述
其中,任意相邻采样点的相位差Δ(k)通过以下公式确定:
其中,通过以下公式确定第一数字合成信号S'(k)的瞬时相位采样
其中,所述S'r(k)指示第一数字合成信号在复数域中的实部信号,所述S'i(k)指示第一数字合成信号在复数域中的虚部信号。
7.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,通过计算构造载波信号与数字合成信号的相关性系数,实时计算并调整相位补偿δ(k);
通过以下公式所述相关性系数:
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取N个通道的N路信号中工作状态正常的M路信号,包括:
分别获取所述N个通道的N路信号的以下信息:信号的实时均值,信号的实时能量谱和信号的实时相关性系数,其中,所述实时相关性系数通过以下公式确定:
其中,C(k)表示当前构造得到的构造载波信号,S(k)表示各个通道信号在复数域的表达式,P(s)表示当前所述通道信号的实时能量谱;
从N路信号中选择出M路信号满足以下条件:M路信号的实时均值满足第一预设条件,M路信号的实时能量谱满足第二预设条件,且M路信号的实时相关性系数满足第三预设条件。
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