[发明专利]适用于加工中心的对表件、精密加工工艺及零件尺寸测量方法

权利要求书

1.一种适用于加工中心的对表件，其特征在于：包括磁力表架(1)，所述磁力表架(1)上设有对表凹槽(11)，所述对表凹槽(11)的内侧面(12)与磁力表架(1)吸附面(13)平行。

2.根据权利要求1所述适用于加工中心的对表件，其特征在于：所述对表凹槽(11)内侧面(12)与磁力表架(1)吸附面(13)的平行度为0.002～0.003。

3.一种适用于加工中心的精密加工工艺，其特征在于，包括以下步骤：

1)校对磁力表架(1)

1.1)在磁力表架(1)上加工对表凹槽(11)，所述对表凹槽(11)的内侧面(12)为测量面；设置对表凹槽(11)的测量面与磁力表架(1)吸附面(13)平行，测量并记录对表凹槽(11)的实际宽度A；

1.2)将百分表(2)安装至加工中心机床主轴的弹簧卡头上；

1.3)将磁力表架(1)吸附在加工中心机床的一个表面上，该表面与机床X轴或Y轴平行；将百分表(2)移至对表凹槽(11)中心，对百分表(2)进行调零，则调零后的百分表(2)回转直径为对表凹槽(11)实际宽度A，回转半径即为A/2；

2)零件(3)加工

2.1)将相对对表凹槽(11)调零后的百分表(2)移至零件(3)的两个基准面中的一个之上；所述两个基准面为X轴方向基准面、Y轴方向基准面，即基准面Ⅰ(31)、基准面Ⅱ(32)；将百分表(2)相对该基准面调零，记录主轴中心相对该基准面的距离L，L＝A/2；

2.2)根据零件(3)图加工尺寸要求选择相对于该基准面的某点B(X，Y)作为工件坐标系原点(33)，其中X、Y分别为工件坐标系原点(33)在机床X轴、Y轴方向上距离机床主轴相对于基准面Ⅰ(31)、基准面Ⅱ(32)对表后的距离，将机床主轴移动至B点，即在X方向移动X+L、Y方向移动Y+L，建立工件坐标系，进行零件(3)加工。

4.根据权利要求3所述适用于加工中心的精密加工工艺，其特征在于：步骤1.1)中，在磁力表架(1)上加工对表凹槽(11)时，需要对磁力表架(1)对表凹槽(11)内侧面(12)的平行度进行校正，校正至与机床X轴或者Y轴平行。

5.根据权利要求4所述适用于加工中心的精密加工工艺，其特征在于：采用百分表(2)进行对表凹槽(11)的平行度校正；

所述平行度大于等于零件(3)的加工精度。

6.根据权利要求4所述适用于加工中心的精密加工工艺，其特征在于：所述平行度为0.002～0.003。

7.一种适用于加工中心的零件尺寸测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

1)校对磁力表架

1.1)在磁力表架(1)上加工对表凹槽(11)，所述对表凹槽(11)的内侧面(12)为测量面；设置对表凹槽(11)的测量面与磁力表架(1)吸附面(13)平行，测量并记录对表凹槽(11)的实际宽度A；

1.2)将百分表(2)安装至加工中心机床主轴的弹簧卡头上；

1.3)将磁力表架(1)吸附在加工中心机床的一个表面上，该表面与机床X轴或Y轴平行；将百分表(2)移至对表凹槽(11)中心，对百分表(2)进行调零，则调零后的百分表(2)回转直径为对表凹槽(11)实际宽度A，回转半径即为A/2；

2)零件(3)测量

2.1)将相对对表凹槽(11)调零后的百分表(2)移至工件的第一测量要素(34)的表面或孔中心，将百分表(2)对零，则主轴中心相对第一测量要素(34)的距离为L，L＝A/2；记录第一测量要素(34)所在位置的机床坐标值E；

2.2)将机床主轴移至第二测量要素(35)的表面或孔中心，将百分表(2)对零，记录第二测量要素(35)所在位置的机床坐标值F，则第一测量要素(34)和第二测量要素(35)之间的测量距离＝E-F-A/2，零件(3)尺寸误差＝C-(E-F-A/2)；

其中，C为第一测量要素(34)和第二测量要素(35)之间的实际距离。