[发明专利]图像特征搜索方法、装置、电子设备及存储介质

权利要求书

1.一种图像特征搜索方法，其特征在于，包括以下步骤：

获取待搜索图像特征以及待选图像特征；

将所述待搜索图像特征以及所述待选图像特征进行自相关归一化；

对自相关归一化后的所述待搜索图像特征在所述待选图像特征中进行暴力搜索，得到暴力搜索结果；

基于所述暴力搜索结果，选取目标结果进行输出。

2.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对自相关归一化后的所述待搜索图像特征在所述待选图像特征中进行暴力搜索，得到暴力搜索结果，包括：

计算自相关归一化后的所述待搜索图像特征以及待选图像特征的余弦相似度；

选取余弦相似度满足预设阈值的待选图像特征，作为所述暴力搜索结果。

3.如权利要求2所述的方法，其特征在于，所述计算所述待搜索图像特征以及待选图像特征的余弦相似度，包括：

通过循环展开完成预设数量的余弦相似度的计算，所述预设数量与所述循环展开的展开度相同。

4.如权利要求3所述的方法，其特征在于，所述循环展开基于avx2指令集进行配置。

5.如权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待选图像特征，包括：

提取待搜索图像特征的待搜索短特征值；

将所述待搜索短特征值与图像数据库中的短特征值进行相似度TOPK计算，得到预设数量的短特征值结果；

根据所述短特征值结果索引对应的图像特征，作为待选图像特征；

其中，所述待搜索短特征值与所述图像数据库中的短特征值通过同一特征提取引擎进行提取，所述图像数据库中的短特征值与对应的图像特征存在映射关系。

6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述获取待选图像特征，还包括：

获取搜索条件，根据所述搜索条件确定图像数据库中的搜索区域，所述搜索区域包括与所述搜索条件对应的短特征值；

所述将所述待搜索短特征值与图像数据库中的短特征值进行相似度TOPK计算，得到预设数量的短特征值结果，包括：

将所述待搜索短特征值与所述搜索区域中的短特征值进行相似度TOPK计算，得到预设数量的短特征值结果。

7.如权利要求6所述的方法，其特征在于，所述搜索条件包括目标属性值，所述待选图像包括属性值，所述获取待选图像特征，还包括：

根据所述目标属性值对所述待选图像进行过滤，得到具有所述目标属性值的待选图像特征。

8.一种图像特征搜索装置，其特征在于，所述装置包括：

获取模块，用于获取待搜索图像特征以及待选图像特征；

归一化模块，用于将待搜索图像特征以及待选图像特征进行自相关归一化；

搜索模块，用于对自相关归一化后的所述待搜索图像特征在所述待选图像特征中进行暴力搜索，得到暴力搜索结果；

输出模块，用于基于所述暴力搜索结果，选取目标结果进行输出。

9.一种电子设备，其特征在于，包括：存储器、处理器及存储在所述存储器上并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现如权利要求1至7中任一项所述的图像特征搜索方法中的步骤。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7中任一项所述的图像特征搜索方法中的步骤。