[发明专利]一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、主控及介质

说明书

本申请公开了一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质，该方法包括：生成测试数据；关闭差分功能，将测试数据写入硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；判断从目标存储单元中读取的第一写入数据与测试数据是否一致；若是，则开启差分功能，将测试数据覆盖写入目标存储单元；判断从目标存储单元中读取的第二写入数据与测试数据是否一致；若第二写入数据与测试数据一致，则判定差分信号正常；若第二写入数据与测试数据不一致，则判定差分信号异常。本申请先后在关闭和开启差分功能的两种状态下，分别对硬盘中存储单元进行数据写入校验，从而对出现差分问题的通信链路进行故障排查定位，有效提高生产效率和质量。

技术领域

本申请涉及电子检测技术领域，特别涉及一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质。

背景技术

一般情况下，硬盘在量产并制作完成后，会对所有的盘做高温RDT以及BIT老化等测试。在实际测试和应用中，差分信号质量对这些测试结果会造成一定的干扰，影响测试结果。而现有技术中，通常并未在硬盘测试中进行关于差分信号质量的专项检测，以至于在高温RDT、BIT老化等测试过程中出现了相关差分问题时，才发现故障问题，并唯有通过耗时耗力的层层检测和定位来解决故障，严重影响了生产效率。

鉴于此，提供一种解决上述技术问题的方案，已经是本领域技术人员所亟需关注的。

发明内容

本申请的目的在于提供一种硬盘的差分信号质量检测方法、装置、硬盘主控及计算机可读存储介质，以便有效地针对差分信号质量进行专项检测，帮助进行故障定位及提高生产效率和质量。

为解决上述技术问题，第一方面，本申请公开了一种硬盘的差分信号质量检测方法，应用于硬盘主控，包括：

生成测试数据；

关闭差分功能，将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元；

判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致；

若是，则开启差分功能，将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元；

判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致；

若所述第二写入数据与所述测试数据一致，则判定差分信号正常；若所述第二写入数据与所述测试数据不一致，则判定差分信号异常。

可选地，在所述判断从所述目标存储单元中读取的第一写入数据与所述测试数据是否一致之后，还包括：

若否，则判定通信链路异常。

可选地，在所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元之前，还包括：

擦除所述目标存储单元。

可选地，在所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元之后，还包括：

判断是否覆盖写入成功；

若覆盖写入成功，则继续执行所述判断从所述目标存储单元中读取的第二写入数据与所述测试数据是否一致的步骤；

若覆盖写入失败，则再次执行所述将所述测试数据覆盖写入所述目标存储单元的步骤。

可选地，在所述关闭差分功能之后，还包括：

获取差分功能状态；

判断差分功能是否成功关闭；

若是，则继续执行所述将所述测试数据写入所述硬盘的目标FLASH中的目标存储单元的步骤；

若否，则生成差分功能配置失败的报错信息。

可选地，在所述开启差分功能之后，还包括：