[发明专利]一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法

说明书

本发明公开了一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法，包括影像系统、点测系统、测试系统、标记系统，所述影像系统能够完成捕捉、读取视野内待测产品的影像并记录，所述点测系统能够对待测产品进行位置与角度的调整，所述测试系统能够进行波长等光谱参数与功率等光电参数的测试，所述标记系统能够对不合格品进行喷涂标记，本发明科学合理，使用安全方便,本发明实现了对半导体激光器的自动测试，解决了人工手动测试的弊端，提高了测试的效率，同时实现了波长与功率的一体化测试，实现了生产线的自动化，降低了生产成本，提高产品的一致性、对档率，有助于实现精准投料封装。

技术领域

本发明涉及半导体激光器测试技术领域，具体是一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法。

背景技术

随着半导体技术的日趋成熟，半导体激光器以其转换效率高、体积小、重量轻、可靠性高、能直接调制等特点，在科研、工业、军事、医疗等领域得到了日益广泛的应用，并在诸多领域引起了革命性的突破，市场需求量及发展潜力巨大，半导体激光器需要复杂的制造工艺与生产流程等环节共同完成，其中半导体激光器的COS封装则是至关重要的一项，为了确保半导体激光器COS的质量、一致性、对档率以及实现精准投料封装而进行的分选等相关问题，必须进行测试作业，并且根据记录的数据，判断不合格的半导体激光器，然后标记不合格的半导体激光器下传后道工序进行剔除，目前在半导体激光器封装领域，半导体激光器COS的测试项目主要是检查通电光谱的波长情况，目前半导体激光器COS的测试与标记主要是通过手动方式进行，人工将半导体激光器COS放置于工作台上固定住，然后手动通电进行测试，通过显示屏上的测试结果判断半导体激光器是否不合格，并且标记不合格品，以便下传后道进行剔除，这种手动测试的方式效率低，并且容易出现错漏，同时手动测试不可避免对产品造成污染，影响产品质量。

发明内容

本发明的目的在于提供一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法，以解决现有技术中提出的问题。

为实现上述目的，本发明提供如下技术方案：

一种半导体激光器的自动测试标记系统与方法，包括影像系统、点测系统、测试系统、标记系统、控制终端，所述影像系统能够完成捕捉、读取视野内待测产品的影像并记录，所述点测系统能够对待测产品进行位置与角度的调整，配合影像系统完成运动工作台上全部待测产品的扫描与记录，所述测试系统能够进行波长等光谱参数与功率等光电参数的测试，并能够检测并记录不合格品，所述标记系统能够对不合格品进行墨水喷涂，进行标记，便于后道工序剔除，所述影像系统、测试系统、标记系统分别都跟控制终端信号连接，所述点测系统可通过影像系统观察测试样品位置情况进而对待测产品进行位置调节，本装置内部上端固定安装有安装平台，本装置顶部固定安装有显示器。

所述影像系统包括CCD相机、调整底座、显示器，所述CCD 相机与调整底座固定连接，所述调整底座安装在安装平台上，所述CCD相机通过数据传输线与显示器电性连接，首先，通过调整底座将CCD相机镜头对焦半导体激光器，直至显示器上的软件界面显示清晰的影像，并与点测系统的四轴运动工作台配合，影像系统完成捕捉、读取此时视野内待测产品的影像并记录，继续进行影像扫描，将工作台上的待测产品全部扫描并记录，所述CCD相机通过数据传输线与控制终端连接，所述控制终端通过数据传输线与显示器连接，所述安装平台上安装有调整底座，所述安装平台上设置有点测系统、测试系统和标记系统。