[发明专利]MIMO无线终端的测试方法、装置以及系统有效
申请号: | 201911183411.8 | 申请日: | 2019-11-27 |
公开(公告)号: | CN112865840B | 公开(公告)日: | 2022-02-18 |
发明(设计)人: | 沈鹏辉;漆一宏;于伟 | 申请(专利权)人: | 深圳市通用测试系统有限公司 |
主分类号: | H04B7/0413 | 分类号: | H04B7/0413;H04B17/00;H04B17/391 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 黄海艳 |
地址: | 518102 广东省深圳市*** | 国省代码: | 广东;44 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | mimo 无线 终端 测试 方法 装置 以及 系统 | ||
本申请公开了一种MIMO无线终端的测试方法、装置、系统、电子设备和存储介质。该方法包括以下步骤:获取测试需要的天线方向图信息以及测试需要的信道模型;根据天线方向图信息和信道模型,确定天线方向图相对于信道模型处于多个姿态下的各自信道相关矩阵;确定目标测试状态,并对处于目标测试状态下的MIMO无线终端进行测试,得到对应的目标吞吐率测试曲线;获取目标吞吐率测试曲线对应的目标信道相关矩阵;根据天线方向图相对于信道模型处于多个角度下的各自信道相关矩阵、目标信道相关矩阵和目标吞吐率测试曲线,获取MIMO无线终端的整体性能值。由此,能够极大程度缩减MIMO无线终端的测试时间,避免了因多个角度进行测试导致测试时间较长的技术问题。
技术领域
本申请涉及无线通信技术领域,尤其涉及一种MIMO无线终端的测试方法、装置、系统、电子设备和计算机可读存储介质。
背景技术
多入多出天线(Multiple-Input Multiple-Output,MIMO)的空中下载技术(OvertheAir,OTA)测试的目的是保证在实验室的测试结果能够真实反映无线终端在各种复杂的实际使用环境及用户使用状态下的无线性能。
相关技术中,无论是多探头法还是辐射两步法,其吞吐率测试都需要测试信道模型相对于被测件各个角度的性能曲线。以二维空间的多探头测试为例,如图1所示,一次测量中,信道模型不变,被测件需要在暗室内部转动,以获取各个角度的性能,然后通过一种平均的方式得到最终结果。如图1所示,当周围环境固定的情况下,被测件转动任何方向,吞吐率性能都会发生变化,因此为了评估被测件的整体性能,标准规定,需要在被测件各个姿态(相对于信道模型的方位角和俯仰角变化)测试被测件的吞吐率。依据3GPP(3rdGeneration Partnership Project,第三代合作伙伴计划)和CTIA(美国无线通信和互联网协会)规定,二维空间的吞吐率测试,采样角度至少要30度的分辨率,因此对于二维空间的MIMO测试,需要测试至少12条曲线(分别对应一个phi切面上的0°,30°,60°,90°,120°,150°,180°,210°,240°,270°,300°,330°);对于三维空间的MIMO测试,至少需要72条曲线(theta轴对应0°,30°,60°,90°,120°,150°;phi轴对应0°,30°,60°,90°,120°,150°,180°,210°,240°,270°,300°,330°,总计12*6=72)。依据CTIA和3GPP规定设置,测试一条曲线需要6~10分钟,因此对于一个二维空间的信道模型,MIMO测试需要72~120分钟,而对于三维空间的MIMO测试需要432~720分钟。
但是,对于MIMO无线终端生产厂家,其无线终端数量及其庞大,如果一部无线终端需要面临这么长的测试时间,其产品检验无法实现;MIMO无线终端研发周期比较紧密,例如手机,研发时间短,必须确保能够快速测试性能好坏;一部无线终端基电量基本无法支持几百分钟的测试。综上,过长的测试时间对MIMO设备是无法忍受的。
发明内容
本申请的目的旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。
为此,本申请的第一个目的在于提出一种MIMO无线终端的测试方法。该方法能够极大程度缩减MIMO无线终端的测试时间,避免了因多个角度进行测试导致测试时间较长的技术问题,实现了快速测试的目的。
本申请的第二个目的在于提出一种MIMO无线终端的OTA测试方法。
本申请的第三个目的在于提出一种MIMO无线终端的测试装置。
本申请的第四个目的在于提出一种MIMO无线终端的OTA测试装置。
本申请的第五个目的在于提出一种MIMO无线终端的测试系统。
本申请的第六个目的在于提出一种电子设备。
本申请的第七个目的在于提出一种计算机可读存储介质。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于深圳市通用测试系统有限公司,未经深圳市通用测试系统有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911183411.8/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:极柱结构及锂离子电池
- 下一篇:IGBT功率器件