[发明专利]一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法及装置

权利要求书

1.一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

将电场传感器布置在第1个测试点；

向所述电场传感器输入测试信号，调整所述信号输出功率，直到所述电场传感器显示的场强等于指定场强；

保持所述信号频率和所述功率不变，依次将所述电场传感器布置在第1个测试点四周的第2至N个测试点；

计算所述电场传感器在所述第2至N个测试点显示的场强与所述指定场强的差值；

调整所述第2至N个测试点与所述第1个测试点的间距，重复前述步骤，直到所述差值小于或等于指定差值。

2.如权利要求1所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：

确定所述均匀域为一垂直平面区域，所述N个测试点均匀分布在所述平面区域上。

3.如权利要求1或2所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：

判断所述信号频率范围；

当所述信号频率大于等于10kHz且小于30MHz时，在垂直极化方向上测试；

当所述信号频率大于等于30MHz时，在水平极化和垂直极化两个方向上测试，在水平极化和垂直极化上都满足所述差值小于或等于指定差值的条件。

4.如权利要求1至3所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于，还包括以下步骤：

改变所述输入测试信号频率。

5.如权利要求1所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于：所述指定差值为±3dB。

6.如权利要求1所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量方法，其特征在于：

所述调整为扩大或缩小。

7.一种辐射敏感度试验场均匀域测量装置，用于实现权利要求1至6任一项所述的辐射敏感度试验场均匀域测量方法，包括信号源、功率放大器、天线，其特征在于：还包括电场感应单元，金属接地平板；

所述均匀域，位于所述金属接地平板上方，是一垂直平面区域；

所述信号源，用于将测试信号输出至所述功率放大器；

所述功率放大器，用于将所述测试信号放大输出至所述天线；

所述天线，与所述均匀域之间为指定距离，用于将所述天线的信号输出至所述电场感应单元；

所述电场感应单元包括电场传感器，所述电场传感器放置在所述均匀域中，用于测试场强。

8.如权利要求7所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量装置，其特征在于：所述电场感应单元还包括电场探头；

所述电场探头，用于读取所述电场传感器的场强数值。

9.如权利要求7所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量装置，其特征在于：

所述平板的表平面与所述均匀域底部的垂直距离的设定最小值为30cm。

10.如权利要求7所述的一种辐射敏感度试验场均匀域测量装置，其特征在于：

所述平板边沿与所述均匀域底部的水平距离的设定最小值为10cm。