[发明专利]裂缝宽度测量方法及装置有效
| 申请号: | 201911182766.5 | 申请日: | 2019-11-27 |
| 公开(公告)号: | CN110926342B | 公开(公告)日: | 2021-07-23 |
| 发明(设计)人: | 庞俊彪;耿慧玲;段立娟;曾君;黄庆明 | 申请(专利权)人: | 北京工业大学 |
| 主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G06T7/60 |
| 代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 王宇杨 |
| 地址: | 100022 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 裂缝 宽度 测量方法 装置 | ||
1.一种裂缝宽度测量方法,其特征在于,包括:
获取摄像头采集到的裂缝图像,并根据所述摄像头到裂缝表面的距离,以及所述摄像头拍摄所述裂缝图像时的焦距和像素,计算所述裂缝图像上单个像素点的宽度;
识别所述裂缝图像的裂缝像素点,在所述裂缝像素点中选择单个裂缝像素点作为测量像素点,以所述测量像素点为中心点,在所述裂缝图像中获取裂缝块;
根据预设算法计算得到所述裂缝块的裂缝主轴,获取经过所述测量像素点且垂直于所述裂缝主轴的直线;
统计所述直线上的裂缝像素点的个数,通过所述裂缝像素点的个数及所述单个像素点的宽度计算得到裂缝宽度;
其中,所述根据预设算法计算得到所述裂缝块的裂缝主轴,包括:
获取边界像素点,所述边界像素点为所述裂缝块中裂缝边界的像素点,并根据所述边界像素点组成像素点矩阵;
计算所述像素点矩阵的特征值及特征向量,并根据所述特征值及特征向量得到所述裂缝主轴的斜率;
根据所述裂缝主轴的斜率得到所述裂缝主轴;
其中,在根据所述裂缝主轴的斜率得到所述裂缝主轴之后,还包括:
获取所述裂缝块的裂缝边界中更靠近所述测量像素点的单侧边界,获取所述单侧边界对应的单侧像素点;
对所述单侧像素点进行拟合,得到所述单侧像素点对应的单侧轴;
获取所述单侧轴的斜率,计算所述裂缝主轴的斜率与所述单侧轴的斜率的差值,当所述差值大于预设阈值时,则判定所述裂缝主轴失效。
2.根据权利要求1所述的裂缝宽度测量方法,其特征在于,在所述判定所述裂缝主轴失效之后,还包括:
根据预设幅度持续旋转所述裂缝块,并在所述裂缝块旋转后,计算当前旋转角度对应的旋转矩阵的秩;
获取所述秩的最小值,并对所述秩的最小值进行降秩,得到所述降秩后的微调旋转矩阵,并根据所述微调旋转矩阵得到微调旋转角度;
通过垂直透射方法判断所述裂缝主轴的主轴方向;
根据所述主轴方向对应的斜率公式及所述微调旋转角度计算得到所述裂缝主轴。
3.根据权利要求1所述的裂缝宽度测量方法,其特征在于,所述识别所述裂缝图像的裂缝像素点之前,还包括
通过裂缝识别方法识别所述裂缝图像中的裂缝,并输出所述裂缝的二值图像;
所述识别所述裂缝图像的裂缝像素点,包括:
识别所述二值图像的裂缝像素点。
4.根据权利要求1所述的裂缝宽度测量方法,其特征在于,所述以所述测量像素点为中心点,在所述裂缝图像中获取裂缝块,包括:
以所述测量像素点为中心点,截取所述裂缝图像的任一部分作为初始裂缝块;
检测所述初始裂缝块中所述裂缝像素点占所述初始裂缝块中所有像素点的比值,当所述比值大于或等于预设比值时,以预设比例放大所述初始裂缝块;
检测所述放大后的初始裂缝块中所述裂缝像素点占所述放大后的初始裂缝块中所有像素点的比值,直至所述比值小于预设比值时,获取当前裂缝块。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京工业大学,未经北京工业大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911182766.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种小型直流电机轴长检测装置及方法
- 下一篇:一种超低温高承载双向密封装置





