[发明专利]高时间分辨率分幅照相系统在审
申请号: | 201911179842.7 | 申请日: | 2019-11-27 |
公开(公告)号: | CN110837201A | 公开(公告)日: | 2020-02-25 |
发明(设计)人: | 王峰;理玉龙;徐涛;刘祥明;关赞洋;魏惠月;彭晓世;刘欣城;刘永刚;任宽 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G03B42/02 | 分类号: | G03B42/02;G21C17/00 |
代理公司: | 重庆为信知识产权代理事务所(普通合伙) 50216 | 代理人: | 蔡冬彦 |
地址: | 621900 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 时间分辨率 照相 系统 | ||
1.一种高时间分辨率分幅照相系统,包括成像光路和记录光路,其特征在于:所述成像光路包括第一透镜(1)、分束镜(2)、台阶反射镜(3)和半导体器件(4),所述台阶反射镜(3)的反射面上具有若干级台阶(3a),任意两级台阶(3a)的厚度均不相同,所述半导体器件(4)远离分束镜(2)的一侧表面镀有金属反射膜(4a);
待测X射线从半导体器件(4)镀有金属反射膜(4a)的一侧表面射入,同时,超短脉冲激光依次经第一透镜(1)和分束镜(2)射向台阶反射镜(3),由台阶反射镜(3)反射回若干束成像光束,各束成像光束先后依次射入半导体器件(4),再依次经金属反射膜(4a)和分束镜(2)反射后引入记录光路,并由记录光路进行记录。
2.根据权利要求1所述的高时间分辨率分幅照相系统,其特征在于:各级所述台阶(3a)的反射面均为平面结构,任意两级台阶(3a)的反射面的倾角均不相同,并使成像光束能够错位叠加地作用在半导体器件(4)的表面。
3.根据权利要求1所述的高时间分辨率分幅照相系统,其特征在于:各级所述台阶(3a)的厚度关系呈等差数列分布。
4.根据权利要求1所述的高时间分辨率分幅照相系统,其特征在于:所述记录光路包括第二透镜(5)、第三透镜(6)、频域滤波器件(7)和CCD(8),所述第二透镜(5)位于分束镜(2)和频域滤波器件(7)之间,所述第三透镜(6)位于频域滤波器件(7)和CCD(8)之间。
5.根据权利要求4所述的高时间分辨率分幅照相系统,其特征在于:所述频域滤波器件(7)为光阑。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国工程物理研究院激光聚变研究中心,未经中国工程物理研究院激光聚变研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911179842.7/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。