[发明专利]一种确定补偿值以及确定光学模组平面度的方法有效
| 申请号: | 201911168368.8 | 申请日: | 2019-11-25 |
| 公开(公告)号: | CN110864649B | 公开(公告)日: | 2021-10-08 |
| 发明(设计)人: | 王非非;宋林东 | 申请(专利权)人: | 歌尔光学科技有限公司 |
| 主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
| 代理公司: | 北京博雅睿泉专利代理事务所(特殊普通合伙) 11442 | 代理人: | 柳岩 |
| 地址: | 261031 山东省潍坊市高新区*** | 国省代码: | 山东;37 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 确定 补偿 以及 光学 模组 平面 方法 | ||
本发明公开了一种确定补偿值的方法。所述方法包括步骤:提供待测光学模组和设置标定板;使位于所述放置区的待测光学模组正对中心标定点设置,使所述待测光学模组发射光线,光线射至所述中心标定点得到所述中心标定点与所述待测光学模组间的距离值,将所述中心标定点与所述待测光学模组间的距离值作为参照值;使所述光线射至多个边缘标定点得到多个所述边缘标定点与所述待测光学模组间的多个实际距离值;将所述中心标定点作为坐标原点,以及根据参照值,多个所述边缘标定点和多个实际距离值进行曲面拟合,得到拟合方程;所述拟合方程被配置为用于确定多个所述边缘标定点的补偿值。本发明采用拟合法确定补偿值,提高了光学模组中平面度的精准度。
技术领域
本发明涉及光学领域,具体地,涉及一种确定补偿值以及确定光学模组平面度的方法。
背景技术
光学模组的平面度是光学模组中固有的特性,通常采用存储在光学模组中的平面度算法对光学模组的平面度进行验证。
现有技术中平面度算法中补偿值的确定通常是采用offset补偿法进行确定;根据光学模组到不同标定点的距离得到不同距离值,进而得到距离差值;其中距离差值为补偿值,但是此方法只能得到一些特定标定点的补偿值,因此光学模组在验证平面度过程中,使得光学模组得到的图像并不精准,光学模组的平面度也不准确。
为解决上述技术问题,本发明提供一种确定补偿值以及验证光学模组平面度的方法。
发明内容
本发明的一个目的是提供一种确定补偿值以及确定光学模组平面度的方法。
根据本发明的第一方面,提供了一种确定补偿值的方法,所述方法包括以下步骤:
提供放置区,所述放置区被配置为用于放置待测光学模组;
设置标定板,所述标定板具有标定点,所述标定点包括中心标定点,和多个边缘标定点,所述中心标定点处于所述标定板的几何中心;
使位于所述放置区的待测光学模组正对所述中心标定点设置,使所述待测光学模组发射光线,所述光线射至所述中心标定点得到所述中心标定点与所述待测光学模组间的距离值,将所述距离值作为参照值;
使所述光线射至多个所述边缘标定点得到多个所述边缘标定点与所述待测光学模组间的多个实际距离值;
将所述中心标定点作为坐标原点,以及根据参照值,多个所述边缘标定点和多个实际距离值进行曲面拟合,得到拟合方程;
所述拟合方程被配置为用于确定多个所述边缘标定点的补偿值。
可选地,所述标定板的表面为平面。
可选地,多个所述边缘标定点位于所述中心标定点的周围。
可选地,所述拟合方程为曲面方程。
可选地,根据最小二乘法确定所述拟合方程中的参数。
根据本发明的另一方面,提供一种利用上述所述的方法确定光学模组平面度的方法,所述方法包括以下步骤:
使所述拟合方程设置在光学模组的处理器中;
将已设置所述拟合方程的光学模组与被摄对象相对设置;
所述被摄对象具有所述中心标定点和多个所述边缘标定点;使多个所述边缘标定点对应的实际距离值与参照值作差值得到多个所述边缘标定点的多个补偿值;
将已设置所述拟合方程的光学模组发射光线射至所述被摄对象,根据多个所述补偿值对光学模组获得的第一图像进行补偿,得到第二图像;
所述第二图像被配置为标志所述已设置所述拟合方程的光学模组的平面度。
可选地,所述第二图像被配置为光学模组实际显示的图像,所述第二图像为平面。
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