[发明专利]基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法在审

专利信息
申请号: 201911163022.9 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN111077874A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 徐志方;郑春艳;戴宁;谢青波;高军科;李莉;陈洪亮 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司洛阳电光设备研究所
主分类号: G05B23/02 分类号: G05B23/02
代理公司: 西北工业大学专利中心 61204 代理人: 刘新琼
地址: 471099 *** 国省代码: 河南;41
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摘要:
搜索关键词: 基于 位置 测量 光电 探测 设备 伺服 控制系统 性能 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种基于角位置测量的光电探测设备伺服控制系统性能测试方法,其特征在于步骤如下:

步骤1:将角位置输入指令置成正弦信号;

步骤2:实时采集当前角位置、角速度,运行控制算法PID计算电机驱动量,驱动伺服机构正弦运动,开始跟随指令信号;

步骤3:实时计算当前角位置与输入指令的跟随误差,并进行存储;

步骤4:运动三个周期后,对跟随误差进行标准差处理,得到测试结果;

步骤5:将测试结果反馈给检测设备。

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