[发明专利]基于差值数据分析的变动轨迹检测系统在审

专利信息
申请号: 201911161166.0 申请日: 2019-11-24
公开(公告)号: CN112836552A 公开(公告)日: 2021-05-25
发明(设计)人: 吴敏 申请(专利权)人: 吴敏
主分类号: G06K9/00 分类号: G06K9/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 250100 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 基于 差值 数据 分析 变动 轨迹 检测 系统
【权利要求书】:

1.一种基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于,包括:

定向捕获机构,设置在博物馆的展品的上方,用于对展品所在环境执行定性捕获动作,以获得并输出相应的定向捕获图像;

内容存储设备,设置在所述定向捕获机构的附近,用于预先存储标准环境图像,所述标准环境图像为展品安置完毕后所述定性捕获机构对展品所在环境拍摄获取的图像;

差值处理设备,分别与所述定性捕获机构和所述内容存储设备连接,用于分别接收标准环境图像和最新的定向捕获图像,将所述最新的定向捕获图像与所述标准环境图像逐像素对齐进行差值计算,以获得对应的差值图像;

数据分析设备,与所述差值处理设备连接,用于接收所述差值图像,并将所述差值图像中像素值大于等于预设数值阈值的像素点作为大值像素点;

变动检测设备,与所述数据分析设备连接,用于在所述差值图像中大值像素点的数量占据像素点总数的比例超限时,发出现场变动指令,否则,发出现场未变动指令;

其中,在所述差值处理设备中,将所述最新的定向捕获图像与所述标准环境图像逐像素对齐进行差值计算,以获得对应的差值图像包括:将所述最新的定向捕获图像的每一个像素点的像素值减去所述标准环境图像同一位置的像素点的像素值以获得对应位置的差值,将对应位置的差值进行取绝对值计算以获得对应位置的参考绝对值;

其中,在所述差值处理设备中,将所述最新的定向捕获图像与所述标准环境图像逐像素对齐进行差值计算,以获得对应的差值图像还包括:将所述最新的定向捕获图像的各个像素点分别对应的各个参考绝对值根据各自对应的位置组成所述差值图像。

2.如权利要求1所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于,所述系统还包括:

压力传感机构,包括第一压力传感器和第二压力传感器,分别与所述差值处理设备和所述数据分析设备连接。

3.如权利要求2所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于:

所述第一压力传感器和所述第二压力传感器用于分别检测所述差值处理设备和所述数据分析设备的外壳温度。

4.如权利要求3所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于,所述系统还包括:

显示设备,分别与差值处理设备和数据分析设备连接,用于显示差值处理设备的各项工作参数和数据分析设备的各项工作参数。

5.如权利要求4所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于:

显示设备为液晶显示屏。

6.如权利要求4所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于:

显示设备为LED显示屏。

7.如权利要求4所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于,所述系统还包括:

触摸屏,用于根据用户的操作,接收用户的输入信息。

8.如权利要求7所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于:

触摸屏被集成在显示设备上。

9.如权利要求8所述的基于差值数据分析的变动轨迹检测系统,其特征在于:

将显示设备、差值处理设备、数据分析设备和触摸屏都集成在一块集成电路板上。

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