[发明专利]一种制备半导体石墨晶圆的方法及其应用有效
申请号: | 201911159264.0 | 申请日: | 2019-11-22 |
公开(公告)号: | CN111081532B | 公开(公告)日: | 2023-03-07 |
发明(设计)人: | 李四中 | 申请(专利权)人: | 华侨大学 |
主分类号: | H01L21/02 | 分类号: | H01L21/02;H01L29/16 |
代理公司: | 厦门市首创君合专利事务所有限公司 35204 | 代理人: | 张松亭;陈淑娴 |
地址: | 362000 福建省*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 制备 半导体 石墨 方法 及其 应用 | ||
1.一种制备半导体石墨晶圆的方法,其特征在于:将含硼的氧化石墨烯配制成浓度0.05-10 mg/ml的乙醇溶液,然后采用匀胶机以300-6000 rpm的转速旋涂于含有氧化硅的硅晶圆表面,干燥后置入气氛炉中,于200-350 ℃的温度下恒温热处理5-60 分钟,得到P型半导体石墨晶圆;所述含硼的氧化石墨烯的硼含量为0.05-10%;所述含有氧化硅的硅晶圆包括硅衬底和二氧化硅绝缘层,所述二氧化硅绝缘层的厚度为30-500 nm。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述乙醇溶液中含硼的氧化石墨烯的浓度为0.5-2 mg/ml。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述匀胶机的转速在3000-6000 rpm之间。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述热处理的恒温时间为10-30分钟。
5.根据权利要求1所述的方法,其特征在于:所述气氛炉的气氛为氢气、氩气、氮气中的一种。
6.权利要求1至5任一项所述的方法制备的半导体石墨晶圆在场效应管的应用。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造