[发明专利]计及参数正态分布的真空断路器电磁暂态模型获取方法在审

专利信息
申请号: 201911157985.8 申请日: 2019-11-22
公开(公告)号: CN110852028A 公开(公告)日: 2020-02-28
发明(设计)人: 邹密 申请(专利权)人: 重庆邮电大学
主分类号: G06F30/36 分类号: G06F30/36;G01R31/327
代理公司: 北京同恒源知识产权代理有限公司 11275 代理人: 杨柳岸
地址: 400065 *** 国省代码: 重庆;50
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摘要:
搜索关键词: 参数 正态分布 真空 断路器 电磁 模型 获取 方法
【权利要求书】:

1.计及参数正态分布的真空断路器电磁暂态模型获取方法,其特征在于:该方法包括以下步骤:

S1:构建改进的断路器重燃及预击穿模型;

S2:实现断路器合分闸模型。

2.根据权利要求1所述的计及参数正态分布的真空断路器电磁暂态模型获取方法,其特征在于:所述步骤S1具体包括以下步骤:

S11:截流值

采用平均截流值反映其截断电流自然过零的能力,平均截流值表示:

Ich=(ωI0αβ)q (1)

其中:ω为角频率,I0为工频电流幅值,α,β以及q为与触头材料相关的参数;对于Cu/Cr触头,α=6.2×10-16(s),β=14.2,q=(1-β)-1

基于EMTP-ATPrandom()函数产生的随机数为均匀分布,而断路器截流值通常满足正态分布,为了模拟截流值的统计分布特性,将平均截流值转化为正态分布的截流值;

对于正态分布变量x的概率密度函数:

其中:μ为均值,σ标准差;

设s1,s2为在[0,1]区间满足均匀分布的随机数,则:

x=μ+σs (4)

由式(4)计算得到的x满足正态分布,在EMTP-ATP中满足正态分布的截流值:

ich=Ichichs (5)

其中,σich为截流值的标准差,通过实验获取;

S12:介质动态绝缘强度

断路器分闸过程中,随着触头间距的逐渐增大,触头间介质的动态绝缘强度也随之增大;将介质绝缘强度与时间的关系近似为线性:

Ub0=A(t-t0)+B (6)

其中:Ub0为断路器平均耐受电压,t0为断路器分离时刻,A为绝缘介电强度的上升速率,B为电流过零前的暂态恢复电压;

采用正态分布模拟其分散性,则基于正态分布的介质动态绝缘强度表示为:

Ub=Ub0ubs (7)

其中,σub为介质动态绝缘强度的标准差;

S13:高频熄弧能力

当断路器暂态恢复电压超过介质动态绝缘强度时,将导致断路器重燃,并伴随着高频电流的形成;定义断路器高频熄弧能力:

dI/dt=C(t-t0)+D (8)

其中:C为断路器高频熄弧能力上升率,D为触头分离时断路器熄弧能力;

采用正态分布后的高频熄弧能力表示为:

di/dt=dI/dt+σits (9)

其中,σit为高频熄弧能力的标准差;

S14:断路器合闸预击穿

对于合闸预击穿特性,用分闸重燃模型中介质动态绝缘强度和高频熄弧能力表征,介质绝缘强度修正为:

其中,Urated为断路器额定电压,t1为断路器合闸时刻。

3.根据权利要求2所述的计及参数正态分布的真空断路器电磁暂态模型获取方法,其特征在于:所述步骤S2具体包括以下步骤:

设当前EMTP-ATP计算时间为t,当前时刻断路器电源侧电压u1、断路器负载侧电压u2以及断路器电流ik已知;

判断t是否大于设定的断路器分离时刻t0,若成立,则计算ich,Ub,di/dt,否则进入下一时刻;

判断首开相是否截流,并据此结果,分别比较t时刻电流值i(t)与截流值ich,电流过零斜率K与高频熄弧能力di/dt以及断路器电源侧电压和负载侧电压差|u1-u2|与介质动态绝缘强度Ub的相对大小,最终输出Trip;

对于合闸预计穿,只需要考虑Ub和di/dt参数,并将Ub用式(10)中Ub0代替。

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