[发明专利]一种辐射测试方法及系统

说明书

本申请公开了一种辐射测试方法及系统，该方法首先获取任一测试点处的PK值，将其转换为设定格式的第一数据，并记录第一数据及其天线位置信息，记录任一测试点处的第二数据，当第二数据大于第一数据时，将第一数据替换为第二数据并记录其天线位置信息，否则保持第一数据及其天线位置，根据一个扫描周期内任一测试点处的频率与PK值的关系生成波形，再根据波形确定任一测试点处的最大PK值和QP最大值，将该QP最大值与辐射测试阈值相比确定辐射测试结果。该系统包括：天线、转桌、接收器、比较器以及波形显示器，待测设置固定设置于转桌上，接收器与天线通信连接，比较器与接收器通信连接。通过本申请，能够大大提高测试效率和测试结果的准确性。

技术领域

本申请涉及计算机技术领域，特别是涉及一种辐射测试方法及系统。

背景技术

EMC(Electro Magnetic Compatibility，电磁兼容性)测试是电器产品出口的基本测试，其中，辐射测试又是EMC测试中的重要项目。计算机领域中的辐射测试主要包含不同的频率测试，通常，30MHz-1GHz为一个测试区间，高于1GHz的测试区间称为高频辐射测试。如何对计算机或服务器进行辐射测试，从而获取其电磁兼容性特征，是个重要技术问题。

以30MHz-1GHz频率区间的测试为例，目前对计算机或服务器进行辐射测试的方法通常采用两次寻找PK最大值的方法。具体地，天线分别在1米、2米、3米和4米处360°扫描待测试设备，选择测试点，针对所选择的测试点进行准峰值检波，即：获取初步的PK(峰值)检波波形，确定PK检波波形最高点，确定PK值与法规限值之间的差值，根据差值大小来决定是否读取此PK点的QP(准峰值)值。如与法规限值余量过小或超出法规限值，对PK检波波形最高点进行第二次扫描，再次寻找PK最大值时的记录位置，并读取PK最大值处的QP值，根据QP值确定辐射测试结果。

然而，目前的辐射测试方法中，由于读取QP值时需要再次寻找PK最大值，每次读取QP值时都需要重新扫描确认PK检波波形最高点时的位置，测试效率较低。以计算机或服务器的一次测试报告为例，一次测试报告中通常需要抓取多个点，每个点重复读取大约需要2分钟，一次测试中仅读取PK检波波形最高点大约需要20分钟左右，因此测试效率较低。另外，由于一次测试中需要两次寻找PK最大值，重复扫描PK检波波形最高点时无法确保两次扫描到的PK值最大点重合，因此，目前的辐射测试方法准确性不够高。

发明内容

本申请提供了一种辐射测试方法及系统，以解决现有技术中的辐射测试方法测试效率较低、测试结果的准确性不够高的问题。

为了解决上述技术问题，本申请实施例公开了如下技术方案：

一种辐射测试方法，所述方法包括：

获取任一测试点处的PK值；

将所述PK值转换为设定格式的第一数据，所述第一数据为任一测试点处前一时刻的PK值转换后的测试数据；

记录所述第一数据以及与所述第一数据相匹配的天线位置信息，所述天线位置信息包括：垂直距离和角度；

记录所述任一测试点处的第二数据，所述第二数据为任一测试点处后一时刻的PK值转换后的测试数据；

判断所述第二数据是否大于第一数据；

如果是，将第一数据替换为第二数据，并记录与所述第二数据相匹配的天线位置信息；

如果否，保持第一数据以及与所述第一数据相匹配的天线位置信息不变；

根据一个扫描周期内所述任一测试点的频率与PK值的关系，生成相应的波形；

根据所述波形，确定所述任一测试点的最大PK值；

获取最大PK值处的QP值；

根据设定的辐射测试阈值和QP值，确定辐射测试结果。