[发明专利]一种激光线长测量仪的校准控制方法、装置及系统在审
申请号: | 201911157616.9 | 申请日: | 2019-11-22 |
公开(公告)号: | CN110823103A | 公开(公告)日: | 2020-02-21 |
发明(设计)人: | 王树刚;吴湘;刘渊伟;周炯鋆;董良海 | 申请(专利权)人: | 无锡市计量测试院 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/04;G01B9/02;G05B15/02 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷红梅;陈丽丽 |
地址: | 214101 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 测量仪 校准 控制 方法 装置 系统 | ||
本发明涉及仪器校准技术领域,具体公开了一种激光线长测量仪的校准控制方法,其中,包括:根据预设参数输出伺服电机驱动信号,所述伺服电机驱动信号能够驱动标准圆盘旋转;获取角度编码器上显示的标准圆盘的旋转角度;根据所述标准圆盘的旋转角度以及预设参数计算标准圆盘的转动线距离;输出所述标准圆盘的转动线距离。本发明还公开了一种激光线长测量仪的校准控制装置及激光线长测量仪的校准系统。本发明提供的激光线长测量仪的校准控制方法可以实现对激光线长测量仪的不同速度以及不同校准点的校准,且该校准控制方法具有成本较低,操作简单的优势。
技术领域
本发明涉及仪器校准技术领域,尤其涉及一种激光线长测量仪的校准控制方法、一种激光线长测量仪的校准控制装置及包括该激光线长测量仪的校准控制装置的激光线长测量仪的校准系统。
背景技术
激光线长测量仪,采用双光线的激光多普勒干涉测量技术,实现非接触式长度测量。激光源发射出的激光通过光束分离器产生两束光在被测物体表面产生明暗相间的干涉条纹,光检测器通过回收激光检测到干涉条纹的变化,输出相应的电信号。被测物体移动,光检测器获得信号,就能测出被测物体的速度,并计算出通过测量区域的该物体的长度。
激光线长测量仪是用在工业生产线上的板材、纸张、布匹等材料在生产过程中实时非接触检测其长度的一种测量仪器,测量准确度达到0.05%。而激光线长测量仪的本身精度也是影响测量结果的,因此,在使用激光线长测量仪之前需要对激光线长测量仪进行校准。但是目前缺乏操作方便成本低廉的激光线长测量仪的校准方式。
发明内容
本发明提供了一种激光线长测量仪的校准控制方法、一种激光线长测量仪的校准控制装置及包括该激光线长测量仪的校准控制装置的激光线长测量仪的校准系统,解决相关技术中存在的缺乏操作方便成本低廉的激光线长测量仪的校准方式的问题。
作为本发明的第一个方面,提供一种激光线长测量仪的校准控制方法,其中,包括:
根据预设参数输出伺服电机驱动信号,所述伺服电机驱动信号能够驱动标准圆盘旋转;
获取角度编码器上显示的标准圆盘的旋转角度;
根据所述标准圆盘的旋转角度以及预设参数计算标准圆盘的转动线距离;
输出所述标准圆盘的转动线距离。
进一步地,所述预设参数包括:预设校准点、预设标准圆盘的线速度和预设标准圆盘的直径。
进一步地,所述根据所述标准圆盘的旋转角度以及预设参数计算标准圆盘的转动线距离,包括:
根据所述标准圆盘的旋转角度以及预设标准圆盘的直径计算标准圆盘的转动线距离。
进一步地,所述输出所述标准圆盘的转动线距离,包括:
输出每个所述预设校准点对应的所述标准圆盘的转动线距离。
作为本发明的另一个方面,提供一种激光线长测量仪的校准控制装置,其中,包括:
预设模块,用于根据预设参数输出伺服电机驱动信号,所述伺服电机驱动信号能够驱动标准圆盘旋转;
获取模块,用于获取角度编码器上显示的标准圆盘的旋转角度;
计算模块,用于根据所述标准圆盘的旋转角度以及预设参数计算标准圆盘的转动线距离;
输出模块,用于输出所述标准圆盘的转动线距离。
作为本发明的另一个方面,提供一种激光线长测量仪的校准系统,其中,包括:标准圆盘、伺服电机、角度编码器和前文所述的激光线长测量仪的校准控制装置;
所述标准圆盘用于承载激光线长测量仪;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于无锡市计量测试院,未经无锡市计量测试院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911157616.9/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种高电阻率土壤用钠基膨润土复合降阻剂
- 下一篇:一种辟谷养生方法