[发明专利]一种光栅光谱仪光学系统焦距和狭缝尺寸计算方法有效
申请号: | 201911156820.9 | 申请日: | 2019-11-22 |
公开(公告)号: | CN111060287B | 公开(公告)日: | 2021-10-01 |
发明(设计)人: | 刘志敏;安宁;唐绍凡;付智红;贺瑞聪;邓家全;李康 | 申请(专利权)人: | 北京空间机电研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01M11/00;G01J3/28 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 高志瑞 |
地址: | 100076 北京市丰*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 光栅 光谱仪 光学系统 焦距 狭缝 尺寸 计算方法 | ||
1.一种光栅光谱仪光学系统焦距和狭缝尺寸计算方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
步骤(1):建立空间天文点源探测光栅光谱仪的光学系统,使光学系统像质达到衍射限;
步骤(2):根据探测光谱的波长最大值λmax和光学系统入瞳直径D得到狭缝处星点像PSF的半高全宽FWHM;根据狭缝处星点像PSF的半高全宽FWHM、光谱采样率n和探测器的光谱方向像元间距p得到光学系统的焦距f′;
步骤(3):根据探测光谱的波长最大值λmax和光学系统入瞳直径D得到艾利斑第一暗环尺寸;根据光学系统的焦距f′、光学系统的放大率δ和艾利斑第一暗环尺寸得到狭缝的宽度Ws;其中,
在步骤(2)中,狭缝处星点像PSF的半高全宽FWHM为:
其中,λmax为探测光谱的波长最大值,D为光学系统入瞳直径;
在步骤(2)中,光学系统的焦距f′由以下公式得到:
其中,n为光谱采样率,p为探测器的光谱方向像元间距;
在步骤(3)中,艾利斑第一暗环尺寸为
在步骤(3)中,狭缝的宽度Ws由以下公式得到:
其中,δ为光学系统的放大率。
2.根据权利要求1所述的光栅光谱仪光学系统焦距和狭缝尺寸计算方法,其特征在于:在步骤(1)中,空间天文点源探测光栅光谱仪的光学系统包括前置系统、狭缝、准直镜、光栅、成像镜和探测器;其中,
前置系统接收具有入瞳直径D的前端望远镜出射的平行光,将平行光聚焦到具有一定宽度的狭缝处,光线通过狭缝后,由准直镜再将光线准直成平行光,入射到光栅上;光栅将入射光进行色散,形成光谱;成像镜再将光谱成像到探测器上。
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