[发明专利]LTE系统内干扰的识别方法及装置

说明书

本发明实施例提供一种LTE系统内干扰的识别方法及装置，其中，方法包括：根据LTE网络全天小时粒度的底噪数据，筛选LTE干扰小区并获取每个LTE干扰小区的全天底噪均值；获取每个LTE干扰小区有切换关系的同频点邻区的小时粒度的全天业务量；对于任一LTE干扰小区，获取当前LTE干扰小区的全天底噪均值与当前LTE干扰小区有切换关系的同频点邻区的小时粒度的全天业务量的相关系数，根据所述相关系数，确定当前LTE干扰小区是否为LTE系统内干扰小区。本发明实施例能够快速及时、准确高效的分析识别LTE系统内干扰，提高系统内干扰识别的精度。

技术领域

本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种LTE系统内干扰的识别方法及装置。

背景技术

随着无线宽带移动通信技术的快速发展，无线宽带移动通信网络日趋复杂，用户与业务量的爆炸式增长也对网络服务的质量提出越来越高的要求。然而无线空间中各种电磁信号对无线宽带移动网络产生干扰，使得网络通话质量下降、掉话率抬升、接通率降低，影响整个网络的服务质量和用户感知。随着TD-LTE网络规模、用户和业务的不断发展，同频组网的TD-LTE除了系统间干扰外，也面临着越来越严重的系统内干扰问题，系统内干扰与系统间干扰交织在一起严重影响用户体验，降低对网络的认可。

LTE(长期演进)系统内干扰主要包括：GPS(全球定位系统)失步干扰、邻区业务量造成的底噪抬升和大气波导效应造成的远距离干扰三类。对于邻区业务量造成的底噪抬升导致的这类系统内干扰，由于TD-LTE系统采用同频组网，这类系统内干扰来自于同频段邻区用户的集总干扰，无法像系统间干扰那样通过频谱仪扫频分析确定干扰源类型，识别难度大。目前，LTE系统干扰检测技术方案或者主要集中于LTE系统是否受到干扰，未区分LTE系统内干扰的情形；或者需要大量的底噪数据、MR(测量报告)数据来进行复杂的分析识别。

现有技术提供了一种确定无线通信系统中上行自系统干扰的方法，该方法使用底噪数据和MR数据，利用在指定时间粒度内的底噪变化强度和基于MR计算得到邻区集总干扰功率的变化一致性来判断自系统干扰。但是，该方法基于底噪数据和MR数据计算分析，数据量和计算量巨大，对存储设备、分析设备性能要求极高，分析效率受到明显影响；MR数据受到网络性能和存储条件限制，并非实时提取，分析的实时性较差，无法应用到LTE日常干扰分析优化工作中；MR数据并非全量记录，采样点数据并不能真实准确的反应邻区业务负载情况，分析精度受到一定影响。

发明内容

针对现有技术存在的问题，本发明实施例提供一种LTE系统内干扰的识别方法及装置。

本发明实施例提供一种LTE系统内干扰的识别方法，包括：

根据LTE网络全天小时粒度的底噪数据，筛选LTE干扰小区并获取每个LTE干扰小区的全天底噪均值；

获取每个LTE干扰小区有切换关系的同频点邻区的小时粒度的全天业务量；

对于任一LTE干扰小区，获取当前LTE干扰小区的全天底噪均值与当前LTE干扰小区有切换关系的同频点邻区的小时粒度的全天业务量的相关系数，根据所述相关系数，确定当前LTE干扰小区是否为LTE系统内干扰小区。

可选地，所述根据LTE网络全天小时粒度的底噪数据，筛选LTE干扰小区并获取每个LTE干扰小区的全天底噪均值，包括：

获取LTE网络全天小时粒度的底噪数据；

对所述底噪数据进行有效性校验，剔除所述底噪数据中的无效数据；

根据剔除无效数据后的底噪数据，获取每小时底噪均值和全天底噪均值；

将全天底噪均值大于预设底噪阈值的小区，确定为LTE干扰小区。

可选地，所述获取每个LTE干扰小区有切换关系的同频点邻区的小时粒度的全天业务量，包括：