[发明专利]一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法、系统及存储介质

权利要求书

1.一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法，其特征在于：包括如下步骤：

S1：将红外检测出来的劣化绝缘子测试绝缘电阻值，设定绝缘电阻值的样本范围，将位于样本范围内的劣化绝缘子作为样本集；

S2：求出样本集中的劣化绝缘子的温差数据；

S3：使用广义极值分布对样本集中的劣化绝缘子进行拟合，根据广义极值分布的函数表达式，进行极大似然估计，得到分布的参数值，根据步骤S2得到的温差数据求出劣化绝缘子温差数学模型；

S4：根据劣化绝缘子温差数学模型得到拟合概率密度函数分布，依据概率密度函数的定义，其拟合曲线与横坐标的面积为相应数据发生的概率，通过计算阴影部分的面积，得到该分布平均温差大于设定温度值的概率值，根据样本集中的劣化绝缘子中最小的温差值，通过红外检测盲区的分析，得到劣化绝缘子的温差阈值，所述温差阈值包括轻微盲区劣化温差阈值、一般轻微劣化温差阈值、一般劣化温差阈值、一般严重劣化温差阈值和严重劣化温差阈值；

所述步骤S1中绝缘电阻值的样本范围为阻值≤300MΩ；

所述步骤S3具体为：

广义极值分布的概率分布函数为：

广义极值分布的概率密度函数为：

式中k为形状参数，μ为位置参数，σ为尺度参数，利用得到的样本X＝(x₁，x₂，…，x_n)，对广义极值分布进行参数的极大似然估计，其对数似然函数为：

令求出劣化绝缘子温差数学模型。

2.根据权利要求1所述的一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法，其特征在于：所述步骤S3执行后，采用K-S检验，对样本集中的样本进行拟合优度检验，检验样本是否符合分布。

3.根据权利要求2所述的一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法，其特征在于：所述拟合优度检验具体为：

构造统计量：

KS＝max(|F_n(x)-G(x)|)

其中F_n(x)为样本得到的经验分布函数，G(x)为指定的分布函数，设定显著水平值，经K-S检验，若算出K-S检验返回值h＝0，则表明接受原假设，样本数据符合广义极值分布。

4.根据权利要求1所述的一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法，其特征在于：所述步骤S2中利用公式将劣化绝缘子温差数据求出，其中T_n代表劣化绝缘子串中第n片劣化的绝缘子铁帽温度。

5.一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化系统，其特征在于：所述系统包括网络接口、存储器和处理器；其中，

所述网络接口，用于在与其他外部网元之间进行收发信息过程中，实现信号的接收和发送；

所述存储器，用于存储能够在所述处理器上运行的计算机程序指令；

所述处理器，用于在运行所述计算机程序指令时，执行权利要求1～4中任一项所述的一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法的步骤。

6.一种计算机存储介质，其特征在于：所述计算机存储介质存储有一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法的程序，所述一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法的程序被至少一个处理器执行时实现权利要求1～4中任一项所述的一种基于广义极值理论的瓷绝缘子红外检测阈值优化方法的步骤。