[发明专利]用于检查微粒过滤器的系统和方法有效
申请号: | 201911146688.3 | 申请日: | 2019-11-21 |
公开(公告)号: | CN111397903B | 公开(公告)日: | 2022-07-12 |
发明(设计)人: | 克里希纳·普拉迪普·奇卢姆库鲁;詹姆士·C·克莱克;理查德·阿多蒂·阿洛泰;路易斯·费尔南多·卢·扎祖塔;托德·M·维兰德;拉斐尔·埃内斯托·瓦斯奎兹·隆巴多 | 申请(专利权)人: | 康明斯公司 |
主分类号: | G01M15/02 | 分类号: | G01M15/02;G01M15/04 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 汤慧华;杨明钊 |
地址: | 美国印*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 检查 微粒 过滤器 系统 方法 | ||
1.一种用于微粒过滤器的微粒过滤器检查系统,所述微粒过滤器检查系统包括:
压缩空气源,其被配置成从空气源抽取空气;
主导管,其被配置成从所述压缩空气源接收空气;
控制器;
探头,其耦合到所述主导管并能够与所述控制器通信,所述探头被配置成与所述微粒过滤器的面对接,以每次向所述微粒过滤器的仅一个分区提供空气;以及
仪表,其被配置成当所述探头正在向所述微粒过滤器的面的仅一个分区提供空气时,确定所述主导管内的空气的压力;
其中所述控制器被配置成从所述仪表接收所述压力,将所述压力与目标高压进行比较,并且如果所述压力不低于所述目标高压,则增加堵塞分区计数。
2.根据权利要求1所述的微粒过滤器检查系统,还包括被配置成选择性地耦合到所述探头的孔板,所述孔板被配置成与所述微粒过滤器对接,并且在所述孔板与所述微粒过滤器对接时,将所述探头与所述微粒过滤器分离。
3.根据权利要求2所述的微粒过滤器检查系统,其中,所述仪表还被配置成当所述探头没有向所述微粒过滤器的面的仅一个分区提供空气时,以及当所述孔板耦合到所述探头并与所述微粒过滤器对接时,确定所述主导管内的空气的校准压力。
4.根据权利要求3所述的微粒过滤器检查系统,其中:
所述压缩空气源还被配置成以目标压缩空气源压力将空气提供到所述主导管中;并且
所述控制器还被配置成当所述孔板耦合到所述探头并与所述微粒过滤器对接时,将所述校准压力与目标校准压力进行比较,并基于所述校准压力与所述目标校准压力之间的比较选择性地调节所述目标压缩空气源压力。
5.根据权利要求4所述的微粒过滤器检查系统,还包括质量流量计,所述质量流量计沿着所述主导管定位,并且被配置成确定流经所述主导管的空气的流速。
6.根据权利要求5所述的微粒过滤器检查系统,其中,所述控制器还被配置成当所述孔板耦合到所述探头并与所述微粒过滤器对接时,将所述流速与目标流速进行比较,并且基于所述流速与所述目标流速之间的比较来选择性地调节所述目标压缩空气源压力。
7.根据权利要求1-6中任一项所述的微粒过滤器检查系统,其中,所述控制器还被配置成将所述压力与目标低压进行比较,并且如果所述压力不大于所述目标低压,则提供所述微粒过滤器有泄漏或未通过测试的指示。
8.根据权利要求1-6中任一项所述的微粒过滤器检查系统,其中,所述探头包括密封构件,所述密封构件被配置成与所述微粒过滤器的面对接,并在所述探头和所述微粒过滤器的面之间建立密封。
9.一种使用微粒过滤器检查系统测试微粒过滤器的方法,所述微粒过滤器检查系统包括探头和仪表,所述方法包括:
确定所述微粒过滤器的面的目标分区;
将所述探头定位在所述目标分区上;
从所述仪表接收所述目标分区的压力;
确定所述压力是否低于与所述目标分区相关联的目标高压;以及
响应于确定所述压力不低于所述目标高压,增加堵塞分区计数。
10.根据权利要求9所述的方法,还包括:
将所述堵塞分区计数和与所述微粒过滤器相关联的目标堵塞分区计数进行比较;以及
基于所述堵塞分区计数和所述目标堵塞分区计数之间的比较,指示所述微粒过滤器是干净的还是脏的。
11.根据权利要求9所述的方法,还包括:
确定所述压力是否大于与所述目标分区相关联的目标低压;以及
响应于确定所述压力不大于所述目标低压,增加泄漏分区计数。
12.根据权利要求9所述的方法,其中,所述仪表是通过辅助导管耦合到所述探头的仪表,所述探头从与所述辅助导管分离的主导管接收空气。
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