[发明专利]利用准直光路调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的方法在审
申请号: | 201911144660.6 | 申请日: | 2019-11-20 |
公开(公告)号: | CN110854045A | 公开(公告)日: | 2020-02-28 |
发明(设计)人: | 景灏;董永谦;闫瑛;王雁;狄希远;吕琴红;孙丽娜;斯迎军;高峰 | 申请(专利权)人: | 西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所) |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/68;H01L21/603 |
代理公司: | 山西华炬律师事务所 14106 | 代理人: | 陈奇 |
地址: | 030024 山西*** | 国省代码: | 山西;14 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 利用 准直光路 调整 芯片 吸盘 平行 方法 | ||
1.一种利用准直光路调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的方法,其特征在于以下步骤:
红色LED点光源(23)发出的红色光线依次经过第一半透半反反射镜(24)透射、第一准直物镜(25)透射后,在靶标图像生成板(26)上形成有靶标图像红色光线,所形成的靶标图像红色光线依次经过第一反射镜(27)反射、第二半透半反反射镜(28)反射、第二反射镜(29)反射,并经第一滤光片(30)滤光后,照射到带反射镜面的芯片吸盘(14)的反射镜面上,经反射镜面反射后,依次通过第一滤光片(30)滤光、第二反射镜(29)反射、第二半透半反反射镜(28)透射、第三反射镜(31)反射、第四反射镜(32)反射和第二准直物镜(33)透射后在准直成像相机(34)中生成有靶标图像经带反射镜面的芯片吸盘(14)反射后的靶标生成图像A;
蓝色LED点光源(35)发出的蓝色光线依次经过第一半透半反反射镜(24)反射、第一准直物镜(25)透射后,在靶标图像生成板(26)上形成靶标图像蓝色光线,所形成的靶标图像蓝色光线依次经第一反射镜(27)反射、第二半透半反反射镜(28)透射、第五反射镜(36)反射、第六反射镜(37)反射,并经第二滤光片(38)滤光后,照射到带反射镜面的基板吸盘(2)的反射镜面上,经基板吸盘(2)的反射镜面反射后,依次通过第二滤光片(38)滤光、第六反射镜(37)反射、第五反射镜(36)反射、第二半透半反反射镜(28)反射、第三反射镜(31)反射、第四反射镜(32)反射和第二准直物镜(33)透射后,在准直成像相机(34)中生成靶标图像经带反射镜面的基板吸盘(2)反射后的靶标生成图像B;
靶标生成图像A与靶标生成图像B若不重合,调整俯仰偏摆调整平台(12),改变带反射镜面的芯片吸盘(14)的姿态,直至靶标图像经带反射镜面的芯片吸盘(14)反射后的靶标生成图像A与靶标图像经带反射镜面的基板吸盘(2)反射后的靶标生成图像B重合,完成芯片吸盘与基板吸盘平行度的调整操作。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所),未经西北电子装备技术研究所(中国电子科技集团公司第二研究所)许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911144660.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种大米加工用除尘装置
- 下一篇:调整芯片吸盘与基板吸盘平行度的准直光路结构
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造