[发明专利]一种光电稳瞄系统稳定精度快速检测方法

权利要求书

1.一种光电稳瞄系统稳定精度快速检测方法，其特征在于，以六自由度摇摆台(1)、半导体激光指示器(3)、准直透镜(4)、PSD(5)、处理电路(6)和计算机(7)为测试工具，该检测方法包括以下步骤：

1)将半导体激光指示器(3)安装于光电稳瞄系统(2)的稳瞄光具座上，光束与光电稳瞄系统的稳瞄瞄准线平行；

2)保持六自由度摇摆台(1)为停止状态，将光电稳瞄系统(2)固定在六自由度摇摆台(1)上；

3)在激光出射方向处放置光学平台，将准直透镜(4)安装于光学平台上，使激光沿准直透镜(4)光轴方向入射；

4)将PSD(5)安装在光学平台上，置于距离准直透镜f米的焦平面处，用于接收激光出射光斑，并接上相应处理电路(6)和电脑(7)，记录光斑的运动数据；

5)检测工作正式开始，开启半导体激光指示器(3)和光电稳瞄系统(2)，用计算机记(7)录下此时光斑在PSD上的位置数据P₀(x₀,y₀)；

6)开启六自由度摇摆台(1)，用计算机(7)记录下此时光斑在PSD(5)上的位置坐标P_i(x_i,y_i)，则ΔS_x＝x_i-x₀，ΔS_y＝y_i-y₀；

7)根据公式tanα＝ΔS/f，计算光电稳瞄系统分别在方位和俯仰上的稳定精度σ_x＝actan(ΔS_x/f)，σ_y＝actan(ΔS_y/f)，其中f为准直透镜的焦距，α表示光轴呈α角入射进准直透镜；ΔS表示在后焦面上形成的像点与原始像点之间相距。

2.根据权利要求1所述的一种光电稳瞄系统稳定精度快速检测方法，其特征在于，步骤5)中，检测工作正式开始前，需要对测试工具进行校准。

3.根据权利要求2所述的一种光电稳瞄系统稳定精度快速检测方法，其特征在于，校准方法为：开启半导体激光指示器(3)，微调准直透镜(4)，使激光的入射点在准直透镜(4)的中心点上，保证在六自由度摇摆台(1)开启后，激光入射点能在准直透镜(4)的口径之内，调整PSD(5)平面，使出射光线落在PSD光敏面的中心点范围内，确保当六自由度摇摆台(1)工作时，激光的透射光点能落在PSD器件线性度较好的区域，测试工作完成后，关闭所有器件。

4.根据权利要求3所述的一种光电稳瞄系统稳定精度快速检测方法，其特征在于，所述中心点范围为PSD光敏面的中心点半径A-Bcm内。

5.根据权利要求1所述的一种光电稳瞄系统稳定精度快速检测方法，其特征在于，所述半导体激光指示器(3)与光学平台距离为2～5米。