[发明专利]一种基于平面配准的球面子孔径拼接方法在审

专利信息
申请号: 201911118701.4 申请日: 2019-11-15
公开(公告)号: CN110966955A 公开(公告)日: 2020-04-07
发明(设计)人: 朱日宏;秦敏昱;李建欣;马骏;宗毅;段明亮;魏聪 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G06T7/33;G06T3/40
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱沉雁
地址: 210094 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 一种 基于 平面 球面 孔径 拼接 方法
【权利要求书】:

1.一种基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,方法步骤如下:

步骤1、在球面上沿着纬度,每隔一定经度,呈环带规划子孔径拼接路径;

步骤2、按照子孔径拼接路径,对每个环带进行干涉测量,分别得到每个环带的所有子孔径数据,运用Zernike多项式去除低频信息拟合到平面;

步骤3、对平面上的每个子孔径数据运用Fourier Mellin图像配准,得到同一环带相邻子孔径在平面内的旋转量和平移量;

步骤4、将同一环带内子孔径依次拼接,在平面内排布,产生二维环带数据;

步骤5、根据二维环带数据建立极坐标系,按照极坐标的极径、极角展开,得到矩阵数据;

步骤6、对矩阵数据进行配准,所有环带和封顶子孔径都在同一平面拼接,得到全口径平面数据;

步骤7、将全口径平面数据转换到球坐标系,形成完整三维球面数据。

2.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤1中,在球面上沿着纬度,每隔一定经度,呈环带规划子孔径拼接路径,即测量时的子孔径扫描轨迹是沿着纬线,单条纬线采集完毕后继续下一条纬线的子孔径采集,各个纬线环带内的子孔径存在重合部分,纬线环带间也存在重合部分,所有子孔径能覆盖全口径的球面。

3.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤2中,按照子孔径拼接路径,对每个环带进行干涉测量,分别得到每个环带的所有子孔径数据,运用Zernike多项式去除低频信息拟合到平面,具体如下:按照子孔径拼接路径,对每个环带进行干涉测量,分别得到每个环带的所有子孔径数据,即条纹数据,对条纹数据进行移相算法,得到相位,相位展开后,使用Zernike多项式拟合法,去除子孔径的低阶波面,只保留高频信息,得到包含缺陷信息的平面。

4.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤3中,通过Fourier Mellin图像配准,得到相邻子孔径在平面的相对旋转角度Δθ,相对位移Δx和Δy,根据机械精度,对得到的Δθ、Δx和Δy进行误差分析,剔除误差较大的数据并按照平均值修正。

5.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤4中,对同一环带的子孔径进行拼接,以一个子孔径为基准,其相邻的后一子孔径依次按照旋转位移量拼接;环带所有子孔径在平面上呈圆弧排布;最后的子孔径再与第一个子孔径配准拼接,使得环带两端都是同一孔径,在平面上完成闭环,得到二维环带数据。

6.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤5中,根据二维环带数据,取平面环带内各个子孔径的中心坐标,拟合出所有坐标的圆心,以拟合的圆心为极点,极点到第一个子孔径中心为极轴建立极坐标系,得到数据点(ρ,θ),以ρ为纵坐标、θ为横坐标,ρ、θ均匀分布,将所有数据点重新排布到平面矩形内,得到矩阵数据。

7.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤6,根据展开后的平面环带图,即θ坐标矩阵,运用相位相关技术进行环带间配准,得到环带间的位移量Δθ,即为球坐标系上环带间的偏移;在平面上将相邻环带的θ坐标数据拼接,相邻环带依次按照此方法在同一平面拼接,封顶子孔径也按照相同步骤展开、配准、拼接,最终完成平面全口径数据。

8.根据权利要求1所述的基于平面配准的球面子孔径拼接方法,其特征在于,步骤7中,对于二维环带数据,将以(ρ,θ)为坐标的矩阵,横纵坐标改为球坐标系中的对应关系如下:

设极坐标系各个子孔径中心点组成的弧线lk,则该弧线在球坐标系的角θk球

其他各点对应关系

式中ρk为极坐标系内中心弧线对应的极径,球半径r=lk/tan(θmax),θmax为闭环最后的子孔径中心极角;

对于全口径平面数据,按照对应的比例关系,将矩形数据横纵坐标改为坐标,使θ在0~2π均匀分布,变为球坐标;

将转换坐标后的数据加上球半径r,得到面型起伏R,建立球坐标系,代入各点球坐标形成三维球面全口径数据。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于南京理工大学,未经南京理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201911118701.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top