[发明专利]一种传感器调试方法、智能终端、存储介质及电子设备

说明书

本发明提供了一种传感器调试方法、智能终端、存储介质及电子设备，其方法包括：应用于高通平台下的智能终端，所述智能终端包括CPU和ADSP子系统；CPU获取自身与ADSP子系统之间的通讯接口；CPU与ADSP子系统根据所述通讯接口建立连接之后，ADSP子系统根据CPU传递的读取指令读取目标传感器的寄存器中的配置数据，并发送至CPU；ADSP子系统获取CPU传递的基于所述配置数据的调试指令；ADSP子系统将所述调试指令写入所述目标传感器的寄存器中。本发明在CPU端通过高通的QMI通信机制与ADSP下的传感器架构建立通信，新建通信指令，可从CPU端直接发送需要操作的命令，对ADSP子系统下的传感器进行读写操作，无需重新编译烧录，更加方便以及效率更高。

技术领域

本发明涉及计算机数据处理领域，尤指一种传感器调试方法、智能终端、存储介质及电子设备。

背景技术

高通平台的传感器都是运行在ADSP(Advanced Digital Signal Processor，高级数字信号处理器)子系统架构下的而不是主CPU上，一般传感器上传至CPU的数据都是ADSP子系统经过计算的，原始数据仅在ADSP内计算使用，并没有上传到CPU侧，因此用户无法直接从CPU读取传感器的原始数据。而在传感器调试阶段，是非常需要知道传感器的原始数据

另外，由于高通平台的传感器架构是运行在ADSP子系统，而非传统的linuxkernel下，因此跟CPU端的通信变得比较困难，因此需要调试传感器变得比较困难，只能通过修改编写代码，然后重新编译烧录进行调试，调试方法太过呆板且效率低下。

发明内容

本发明的目的是提供一种传感器调试方法、智能终端、存储介质及电子设备，实现在CPU端通过高通的QMI通信机制与ADSP下的传感器架构建立通信，新建通信指令，可从CPU端直接发送需要操作的命令，对ADSP子系统下的传感器进行读写操作，无需重新编译烧录，更加方便以及效率更高。

本发明提供的技术方案如下：

本发明提供一种传感器调试方法，应用于高通平台下的智能终端，所述智能终端包括CPU和ADSP子系统；

CPU获取自身与ADSP子系统之间的通讯接口；

CPU与ADSP子系统根据所述通讯接口建立连接之后，ADSP子系统根据CPU传递的读取指令读取目标传感器的寄存器中的配置数据，并发送至CPU；

ADSP子系统获取CPU传递的基于所述配置数据的调试指令；

ADSP子系统将所述调试指令写入所述目标传感器的寄存器中。

进一步的，CPU与ADSP子系统根据所述通讯接口建立连接之后，ADSP子系统根据CPU传递的读取指令读取目标传感器的寄存器中的配置数据，并发送至CPU具体包括：

所述通讯接口建立通信连接之后，ADSP子系统根据CPU传递的读取指令中的传感器标号识别目标传感器；

ADSP子系统中的相应的接口读取目标传感器的寄存器中的配置数据；

ADSP子系统将所述配置数据发送至CPU的回调函数。

进一步的，ADSP子系统根据所述调试指令调整所述目标传感器具体包括：

解析所述调试指令，得到校准类型、寄存器地址以及写入内容；

根据所述校准类型和所述写入内容，调用驱动接口对所述寄存器地址进行写入操作。

进一步的，ADSP子系统将所述调试指令写入所述目标传感器的寄存器中之后包括：

ADSP子系统获取所述目标传感器的寄存器的调试结果和调试数据，并发送至CPU的回调函数。