[发明专利]光通道测量机在审

专利信息
申请号: 201911112551.6 申请日: 2019-11-14
公开(公告)号: CN111307832A 公开(公告)日: 2020-06-19
发明(设计)人: 周丰伟;康信坤;徐彬 申请(专利权)人: 无锡富瑞德测控仪器股份有限公司
主分类号: G01N21/954 分类号: G01N21/954
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 殷红梅;屠志力
地址: 214192 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 通道 测量
【权利要求书】:

1.一种光通道测量机,其特征在于,包括:测量装置(1)、入料辊道(2)、合格辊道(3)、不合格辊道(4)、侧推机构、以及配套的电控装置;

所述入料辊道(2)与合格辊道(3)装配成沿直线方向布设;在入料辊道(2)与合格辊道(3)相衔接位置设置测量工位,测量装置(1)安装在所述测量工位;

在合格辊道(3)的所述测量工位下游的一侧设置不合格辊道(4),并且在另一侧设置侧推机构;

所述测量装置(1)用于对待测部件的内孔道进行光检测。

2.如权利要求1所述的光通道测量机,其特征在于,

所述测量装置(1)包括升降框架(101)、上部升降机构(102)、下部升降机构(103)、上测头组(104)、下测头组(105);

所述上部升降机构(102)和下部升降机构(103)分别安装在升降框架(101)上;下部升降机构(103)位于上部升降机构(102)的下方;

上测头组(104)安装在上安装部件(106)上,上安装部件(106)连接在上部升降机构(102);

下测头组(105)安装在下安装部件(107)上,下安装部件(107)连接在下部升降机构(103);

上测头组(104)和下侧头组(105)中均包括多个测头;上测头组(104)和下侧头组(105)中的测头按照待测部件的检测需要对应设置;

各测头中包括光发射单元和/或光接收传感器单元。

3.如权利要求2所述的光通道测量机,其特征在于,

测头中的光发射单元采用940nm或850nm的近红外波段LED光源;测头中的光接收传感器单元采用红外硅光二极管。

4.如权利要求2所述的光通道测量机,其特征在于,

上部升降机构(102)、下部升降机构(103)均采用拖链机构。

5.如权利要求1~4中任一项所述的光通道测量机,其特征在于,

合格辊道(3)上还设有刻印工位;刻印工位上方布设一压紧机构;刻印工位一侧设置一套刻印装置。

6.如权利要求1~4中任一项所述的光通道测量机,其特征在于,

测量工位上还设有定位夹具。

7.如权利要求1~4中任一项所述的光通道测量机,其特征在于,

合格辊道(3)上测量工位前侧设有阻挡机构。

8.如权利要求1~4中任一项所述的光通道测量机,其特征在于,

合格辊道(3)上设有数个部件工位,每个部件工位前侧均设有阻挡机构。

9.如权利要求1~4中任一项所述的光通道测量机,其特征在于,

上测头组(104)和下测头组(105)中,部分测头能够多角度移动。

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