[发明专利]测试方法、装置及相关产品有效
| 申请号: | 201911101707.0 | 申请日: | 2019-11-12 |
| 公开(公告)号: | CN110865296B | 公开(公告)日: | 2021-05-04 |
| 发明(设计)人: | 不公告发明人 | 申请(专利权)人: | 中科寒武纪科技股份有限公司 |
| 主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
| 代理公司: | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人: | 刘新宇 |
| 地址: | 100190 北京市海*** | 国省代码: | 北京;11 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 测试 方法 装置 相关 产品 | ||
本公开涉及一种测试方法、装置及相关产品,所述产品包括控制模块,所述控制模块包括:指令缓存单元、指令处理单元和存储队列单元;所述指令缓存单元,用于存储所述人工神经网络运算关联的计算指令;所述指令处理单元,用于对所述计算指令解析得到多个运算指令;所述存储队列单元,用于存储指令队列,该指令队列包括:按该队列的前后顺序待执行的多个运算指令或计算指令。
技术领域
本公开涉及集成电路测试技术领域,尤其涉及一种测试方法、装置及相关产品。
背景技术
在人工智能技术领域,神经网络算法是最近非常流行的一种机器学习算法,在各种领域中都取得了非常好的效果,比如图像识别、语音识别、自然语言处理等。为了适应神经网络算法而设计了专门的人工智能芯片,传统的对芯片测试结果进行有效性和良率分析的方法不适用于人工智能芯片产品。
发明内容
有鉴于此,本公开提出了一种人工智能芯片的有效性的测试方法及装置,将人工智能模块和人工智能以外的模块的测试结果分开分析,根据人工智能模块的测试结果以及其他模块的测试结果判定所述人工智能芯片是否有效,有利于筛选出虽然存在测试项失效但不影响正常使用的产品,能够提高测试效率,降低芯片生产的成本。
根据本公开的一方面,提供了一种人工智能芯片的有效性的测试方法,所述方法包括:
获取人工智能芯片的测试数据,所述测试数据包括人工智能芯片的各个模块的测试结果;
根据人工智能模块的测试结果以及其他模块的测试结果判定所述人工智能芯片是否有效,
其中,所述其他模块为人工智能芯片上除了人工智能模块以外的模块。
根据本公开的另一方面,提供了一种人工智能芯片的有效性的测试装置,所述装置包括:
获取模块,用于获取人工智能芯片的测试数据,所述测试数据包括人工智能芯片的各个模块的测试结果;
判定模块,用于根据人工智能模块的测试结果以及其他模块的测试结果判定所述人工智能芯片是否有效,
其中,所述其他模块为人工智能芯片上除了人工智能模块以外的模块。
根据本公开的另一方面,提供了一种人工智能芯片的有效性的测试装置,包括:处理器;用于存储处理器可执行指令的存储器;其中,所述处理器被配置为执行上述方法。
根据本公开的另一方面,提供了一种非易失性计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序指令,其中,所述计算机程序指令被处理器执行时实现上述方法。
通过将人工智能模块和人工智能以外的模块的测试结果分开分析,根据人工智能模块的测试结果以及其他模块的测试结果判定所述人工智能芯片是否有效,有利于筛选出虽然存在测试项失效但不影响正常使用的产品,能够提高测试效率,降低芯片生产的成本。
根据下面参考附图对示例性实施例的详细说明,本公开的其它特征及方面将变得清楚。
附图说明
包含在说明书中并且构成说明书的一部分的附图与说明书一起示出了本公开的示例性实施例、特征和方面,并且用于解释本公开的原理。
图1示出根据本公开一实施例的测试方法的流程图。
图2示出根据本公开一实施例的应用场景的示意图。
图3示出根据本公开一实施例的步骤S12的方法的流程图。
图4示出根据本公开一实施例的统计报告中饼状图的示意图。
图5示出根据本公开一实施例的测试方法的应用环境的示意图。
图6示出根据本公开一实施例的测试装置的框图。
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