[发明专利]一种波形测量方法在审
| 申请号: | 201911098085.0 | 申请日: | 2019-11-12 |
| 公开(公告)号: | CN110806501A | 公开(公告)日: | 2020-02-18 |
| 发明(设计)人: | 黄悦扬;毛国梁 | 申请(专利权)人: | 南京宏泰半导体科技有限公司 |
| 主分类号: | G01R13/00 | 分类号: | G01R13/00 |
| 代理公司: | 北京挺立专利事务所(普通合伙) 11265 | 代理人: | 石磊 |
| 地址: | 211800 江苏省南京市浦口区江浦街道浦*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 波形 测量方法 | ||
1.一种波形测量方法,其特征在于,包括:
接收上位机软件发出的开始采集波形信号进行波形采集;
启动计数器,以固定高频率时钟计数;
出现波形翻转,判断计数值是否大于设定的滤波值;
判断波形翻转次数是否达到设定值;
通过上位机软件读取波形,输出测量结果。
2.如权利要求1所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述上位机软件发出的开始采集波形信号波形采集,包括:
将待测波形输入第一比较器和第二比较器,转换为两个对应的方波,将所述转换后的方波传输至硬件逻辑器件。
3.如权利要求1所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述判断计数值是否大于设定的滤波值,包括:
若计数值小于设定的滤波值,则该波形为无效波形,被滤除;
若计数值大于设定的滤波值,则硬件逻辑器件保存当时的波形状态和对应的计数值,并将计数器清零。
4.如权利要求3所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述判断波形翻转次数是否达到设定值,包括:
若波形翻转次数未达到设定值,则计数器重新计数;
若波形翻转次数达到设定值,则硬件逻辑器件停止波形的采集。
5.如权利要求4所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述硬件逻辑器件停止波形的采集后,所述方法还包括:
通过上位机软件读取所述硬件逻辑器件保存的波形状态和计数值,并进行优化。
6.如权利要求1所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述输出测量结果前,所述方法还包括:
以第一比较器从第一状态到第二状态为开始,至其下一个第一状态到第二状态为一个周期,计算周期内的维持时间之和得到波形周期参数。
7.如权利要求1所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述输出测量结果前,所述方法还包括:
在第一比较器为第一状态,第二比较器为第二状态,且第一比较器在前一个状态为第二状态时,获取对应状态的维持时间为波形上升沿时间参数。
8.如权利要求1所述的一种波形测量方法,其特征在于,所述输出测量结果前,所述方法还包括:
在第一比较器为第一状态,第二比较器为第二状态,且第一比较器在前的一个状态为第一状态时,获取对应状态的维持时间为波形下升沿时间参数。
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