[发明专利]一种基于交叉相位的大拓扑荷数涡旋光制备与检测方法在审

专利信息
申请号: 201911096134.7 申请日: 2019-11-11
公开(公告)号: CN110954213A 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 任元;王琛;刘通;丁友;邱松;李智猛;吴昊;杨洋 申请(专利权)人: 中国人民解放军战略支援部队航天工程大学
主分类号: G01J1/08 分类号: G01J1/08;G01J1/00
代理公司: 北京中政联科专利代理事务所(普通合伙) 11489 代理人: 郑久兴
地址: 101416*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 交叉 相位 拓扑 涡旋 制备 检测 方法
【权利要求书】:

1.一种基于交叉相位的大拓扑荷数涡旋光制备与检测方法,其特征在于:拉盖尔高斯光是一种典型的涡旋光,交叉相位可以在传播一段距离的条件下实现拉盖尔高斯光与厄米特高斯光的相互转换,利用多参量联合调控技术制备携带厄米特高斯光信息与交叉相位的全息图样,并加载到空间光调制器,一束线偏振高斯光束照射到空间光调制器进行复振幅调制,出射光为携带交叉相位的厄米特高斯光,传播一段距离后转化为拉盖尔高斯光,即实现大拓扑荷数涡旋光的制备。

2.根据权利要求1所述的基于交叉相位的大拓扑荷数涡旋光制备与检测方法,其特征在于:利用多参量联合调控技术制备携带拉盖尔高斯光信息与交叉相位的全息图样,并加载到空间光调制器,一束线偏振高斯光束照射到空间光调制器进行复振幅调制,出射光为携带交叉相位的拉盖尔高斯光,传播一段距离后转化为厄米特高斯光,通过计算其模数对涡旋光的拓扑荷数和径向节数进行检测。

3.根据权利要求1和权利要求2所述的基于交叉相位的大拓扑荷数涡旋光制备与检测方法,其特征在于:利用多参量联合调控技术生成全息图,该全息图在纯相位空间光调制器中可以对相位和振幅同时进行调控,提高了调控精度;将该相位乘以交叉相位后与闪耀光栅进行叠加,以备筛选出衍射1级,避免其余杂散光,进一步提高大拓扑荷数涡旋光的制备精度。

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