[发明专利]一种工业炉内温度及光谱连续测量装置和测量方法

权利要求书

1.一种工业炉内温度及光谱连续测量装置，其特征在于，包括：耐高温导光晶体管、光学耦合设备、光谱仪和测温组件，所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内，另一端连接所述光学耦合设备，所述光学耦合设备分别通过光纤连接所述测温组件和所述光谱仪；

所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管，所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒，所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物；

所述光学耦合设备外设有水冷设备。

2.根据权利要求1所述的工业炉内温度及光谱连续测量装置，其特征在于，所述测温组件包括：信号处理设备、两个光电探测器和两个滤光片，两个所述光电探测器均与信号处理设备相连接，所述光学耦合设备连接两根第二光纤，两根所述第二光纤分别依次连接一所述滤光片、所述光电探测器。

3.根据权利要求2所述的工业炉内温度及光谱连续测量装置，其特征在于，所述光学耦合设备通过第一光纤与所述光谱仪相连接，两根所述第二光纤、所述第一光纤与所述光学耦合设备的连接处形成一个以三个光纤纤芯中心为顶点的等边三角形状。

4.根据权利要求1所述的工业炉内温度及光谱连续测量装置，其特征在于，所述光学耦合设备的一端与所述水冷设备一端的内壁通过螺纹连接，所述水冷设备的另一端通过螺纹连接于所述耐高温导光晶体管上。

5.根据权利要求4所述的工业炉内温度及光谱连续测量装置，其特征在于，所述水冷设备的进水口通过管路连接有水泵，所述水泵连接一控制设备。

6.根据权利要求5所述的工业炉内温度及光谱连续测量装置，其特征在于，所述水冷设备上设有温度传感器，所述温度传感器连接所述控制设备。

7.一种采用权利要求1-6中任一项所述的工业炉内温度及光谱连续测量装置进行测量的方法，其特征在于，包括如下步骤：

耐高温导光晶体管将采集到的光通量通过光学耦合设备耦合到光纤内，再进一步传导到光谱仪和测温组件内；

两个光电探测器将收集到的光信号转换为电信号，信号处理设备将两个电信号转换为温度值并显示，同时，信号处理设备记录所述温度值及光电探测器收集光信号的第一时间信息，并将温度值与时间信息打包存储；

光电探测器在收集光信号的同时，信号处理设备发送指令到光谱仪，所述光谱仪采集光谱数据并显示，同时，光谱仪记录光谱数据及采集时的第二时间信息；

其中，第一时间信息与第二时间信息相同。