[发明专利]一种工业炉内温度比色测温装置

说明书

本发明涉及一种工业炉内温度比色测温装置，包括：耐高温导光晶体管、光学耦合设备和测温组件，所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内，另一端连接所述光学耦合设备，所述光学耦合设备通过光纤连接所述测温组件；所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管，所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒，所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物。本发明提供的工业炉内温度比色测温装置，通过光学耦合设备替代传统的分光装置，不仅结构简单，而且成本低、装配简单。

技术领域

本发明涉及温度测量设备领域，尤其涉及一种工业炉内温度比色测温装置。

背景技术

工业测温，高温段温度测量通常采用的方法，是比色测温法，其测温范围较大，且抗干扰能力强，对于比色测温法而言，通常需要采用分光装置，且探测器前需加滤光装置。分光装置采用一根光纤进行光通量的传导，后面有若干个半反半透镜片和光学镜片组合成分光系统将光通量分成两路。

此种分光装置结构复杂、成本高，不利于推广使用。

发明内容

本发明为解决现有的比色测温装置分光装置结构复杂、成本高的问题，所采用的技术方案是：一种工业炉内温度比色测温装置，包括：耐高温导光晶体管、光学耦合设备和测温组件，所述耐高温导光晶体管一端置于工业炉内，另一端连接所述光学耦合设备，所述光学耦合设备通过光纤连接所述测温组件；

所述耐高温导光晶体管包括一陶瓷外管，所述陶瓷外管的内腔内设有导光晶体棒，所述导光晶体棒与所述陶瓷外管内壁之间填充有支撑物；所述测温组件包括：信号处理设备、两个滤光片和两个光电探测器，两个所述光电探测器均与信号处理设备相连接，所述光学耦合设备连接一Y型光纤的主光纤，所述Y型光纤的两根分光纤分别依次连接一所述滤光片、所述光电探测器。

进一步改进为，所述光学耦合设备包括：桶型的外壁，所述外壁内腔中嵌有透镜，所述外壁外设有水冷设备。

进一步改进为，所述光学耦合设备的一端与所述水冷设备一端的内壁通过螺纹连接，所述水冷设备的另一端通过螺纹连接于所述耐高温导光晶体管上。

进一步改进为，所述水冷设备的进水口通过管路连接有水泵，所述水泵连接一控制设备。

进一步改进为，所述水冷设备上设有温度传感器，所述温度传感器连接所述控制设备。

本发明的有益效果是：

本发明提供的工业炉内温度比色测温装置，通过光学耦合设备将光通量直接耦合到光纤内，而后光通量在Y型内均匀分成两束，从而无需分光装置，不仅结构简单，而且成本低、装配简单。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是本发明的工业炉内温度比色测温装置结构示意图；

图2是本发明的耐高温导光晶体管结构示意图；

图3是本发明的光学耦合设备结构示意图；

图4是本发明的水冷设备结构示意图；

图5是本发明的水冷循环示意图。

具体实施方式

现在结合附图对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本发明的基本结构，因此其仅显示与本发明有关的构成。